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1. (WO2006027913) SYSTEME, METHODE ET PROGRAMME DE RECONNAISSANCE DE MOTIF CARACTERISTIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2006/027913    N° de la demande internationale :    PCT/JP2005/014130
Date de publication : 16.03.2006 Date de dépôt international : 02.08.2005
CIB :
C12N 15/09 (2006.01), C12Q 1/68 (2006.01), G06F 19/00 (2011.01), G06F 19/22 (2011.01), G06N 3/00 (2006.01)
Déposants : WASEDA UNIVERSITY [JP/JP]; 104, Totsuka-machi 1-chome, Shinjuku-ku, Tokyo 1698050 (JP) (Tous Sauf US).
MATSUYAMA, Yasuo [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
KAWAMURA, Ryo [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
SHIMODA, Keita [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : MATSUYAMA, Yasuo; (JP).
KAWAMURA, Ryo; (JP).
SHIMODA, Keita; (JP)
Mandataire : NAKANO, Hironari; c/o ACE PATENT FIRM, 2nd Flr., A2 Bldg., 45-4, Highasi-Ikebukuro 1-chome, Toshima-ku, Tokyo 1700013 (JP)
Données relatives à la priorité :
2004-233848 10.08.2004 JP
Titre (EN) FEATURE PATTERN RECOGNIZING SYSTEM, METHOD, AND PROGRAM
(FR) SYSTEME, METHODE ET PROGRAMME DE RECONNAISSANCE DE MOTIF CARACTERISTIQUE
(JA) 特徴パターン認識システムおよびその方法、並びにプログラム
Abrégé : front page image
(EN)A feature pattern recognizing system, its method, and a program for recognizing a feature pattern present in a sequence with high accuracy. The discrete symbols (such as base symbols) constituting a sequence (such as a DNA sequence) to be judged are digitized by using the frequency determined for each sequence position and for each type of the discrete symbols to create examination data or an examination data matrix Xtest. A matrix operation (such as Ytest=WpromXtest) of multiplying a separation matrix (such as Wprom) determined by independent component analysis or main component analysis by the examination data or the examination data matrix Xtest to determine separated data or a separated data matrix Ytest. By judging on which side of a threshold a feature judgment element (such as the element in the first line) of Ytest is present, it is judged by using the feature judgment element (elements in lines may be used) whether or not any feature pattern (such as a promoter) is present in the sequence.
(FR)Cette invention concerne un système de reconnaissance de motif caractéristique, sa méthode, et un programme de reconnaissance d'un motif caractéristique présent dans une séquence, de haute précision. Les symboles discrets (tels que les symboles de base) constituant une séquence (comme une séquence d'ADN) à évaluer sont numérisés à l'aide de la fréquence définie pour chaque position de séquence et pour chaque type des symboles discrets, afin de créer des données d'examen ou une matrice de données d'examen Xtest. Une opération matricielle (comme par exemple Ytest=WpromXtest) est obtenue en multipliant une matrice de séparation (telle que Wprom) définie par une analyse de composants indépendants ou une analyse des principaux composants, par les données d'examen ou la matrice de données d'examen Xtest, afin de déterminer les données séparées ou une matrice de données séparées Ytest. En estimant de quel côté d'un seuil un élément d'évaluation d'une caractéristique (comme un élément sur la première ligne) de Ytest est présent, on évalue à partir de l'élément d'évaluation de la caractéristique (les éléments se trouvant sur les lignes peuvent être utilisés), si un motif caractéristique (comme un promoteur) est présent ou non dans la séquence.
(JA) 配列中に存在する特徴パターンを高い精度で認識することができる特徴パターン認識システムおよびその方法、並びにプログラムを提供する。  判定対象の配列(DNA配列等)を構成する各離散シンボル(塩基記号等)を、各配列位置毎でかつ離散シンボルの各種別毎に求められた出現頻度を用いて数値化して検査データまたは検査データ行列Xtestを生成し、独立成分分析または主成分分析により得られた分離行列(Wprom等)と検査データまたは検査データ行列Xtestとを乗じる行列演算(Ytest=Wpromtest等)を行い、分離済データまたは分離済データ行列Ytestを求め、Ytestの特徴判定要素(第1行の要素等)が閾値に対し、いずれの側の値であるかを判定する等、特徴判定要素(複数行の要素でもよい。)を用いて、配列中に特徴パターン(プロモータ等)が存在するか否かを判定する。                                                                                 
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)