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1. (WO2006021926) ETALONNAGE DESTINE A L'ANALYSE SPECTROSCOPIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2006/021926    N° de la demande internationale :    PCT/IB2005/052760
Date de publication : 02.03.2006 Date de dépôt international : 23.08.2005
CIB :
G01J 3/36 (2006.01), G01J 3/04 (2006.01)
Déposants : KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. [NL/NL]; Groenewoudseweg 1, NL-5621 BA Eindhoven (NL) (Tous Sauf US).
RENSEN, Wouter [NL/FR]; (FR) (US Seulement)
Inventeurs : RENSEN, Wouter; (FR)
Mandataire : CHAFFRAIX, Jean; Société Civile SPID, 156 Boulevard Haussmann, F-75008 PARIS (FR)
Données relatives à la priorité :
04104086.6 26.08.2004 EP
Titre (EN) CALIBRATION FOR SPECTROSCOPIC ANALYSIS
(FR) ETALONNAGE DESTINE A L'ANALYSE SPECTROSCOPIQUE
Abrégé : front page image
(EN)The present invention provides an optical analysis system for determining an amplitude of a principal component of an optical signal. The principle component is indicative of the concentration of a particular compound of various compounds of a substance that is subject to spectroscopic analysis. The optical signal is subject to a wavelength selective weighting. Spectral weighting is preferably performed by means of spatial light manipulation means in combination with a dispersive optical element. The inventive calibration mechanism and method effectively allows for an accurate positioning of the spatial light manipulation means. Calibration is based on a calibration segment on the spatial light manipulation means in combination with a reference light source and a detector.
(FR)La présente invention concerne un système d'analyse optique destiné à déterminer une amplitude d'un composant principal d'un signal optique. Le composant principal indique la concentration d'un composé déterminé parmi les différents composés d'une substance, qui est soumis à une analyse spectroscopique. Le signal optique est soumis à une pondération sélective des longueurs d'ondes. La pondération spectrale est effectuée de préférence avec un moyen de manipulation de lumière spatiale en combinaison avec un élément optique à dispersion. Le mécanisme et le procédé d'étalonnage de l'invention permettent un positionnement précis du moyen de manipulation de lumière spatiale. L'étalonnage est basé sur un segment d'étalonnage dans le moyen de manipulation de lumière spatiale en combinaison avec une source lumineuse de référence et un détecteur.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)