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1. (WO2005091265) CIRCUIT D’ATTAQUE DE PANNEAU ELECTROLUMINESCENT ORGANIQUE, DISPOSITIF D’AFFICHAGE ELECTROLUMINESCENT ORGANIQUE ET DISPOSITIF D’INSPECTION DE CIRCUIT D’ATTAQUE ELECTROLUMINESCENT ORGANIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2005/091265    N° de la demande internationale :    PCT/JP2005/005123
Date de publication : 29.09.2005 Date de dépôt international : 22.03.2005
CIB :
G09G 3/20 (2006.01), G09G 3/30 (2006.01)
Déposants : ROHM CO., LTD [JP/JP]; 21, Saiin Mizosaki-cho, Ukyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6158585 (JP) (Tous Sauf US).
MAEDE, Jun [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
ABE, Shinichi [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
FUJIKAWA, Akio [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
FUJISAWA, Masanori [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : MAEDE, Jun; (JP).
ABE, Shinichi; (JP).
FUJIKAWA, Akio; (JP).
FUJISAWA, Masanori; (JP)
Mandataire : KAJIYAMA, Tsuyoshi; 8-8-15-201, Nishi-Shinjuku, Shinjuku-ku Tokyo 1600023 (JP)
Données relatives à la priorité :
2004-087013 24.03.2004 JP
Titre (EN) ORGANIC EL PANEL DRIVING CIRCUIT, ORGANIC EL DISPLAY DEVICE AND ORGANIC EL PANEL DRIVING CIRCUIT INSPECTING DEVICE
(FR) CIRCUIT D’ATTAQUE DE PANNEAU ELECTROLUMINESCENT ORGANIQUE, DISPOSITIF D’AFFICHAGE ELECTROLUMINESCENT ORGANIQUE ET DISPOSITIF D’INSPECTION DE CIRCUIT D’ATTAQUE ELECTROLUMINESCENT ORGANIQUE
(JA) 有機ELパネルの駆動回路、有機EL表示装置および有機ELパネル駆動回路の検査装置
Abrégé : front page image
(EN)An output current from each output terminal (X) of an organic EL panel driving circuit (10) to each column pin or each data line is selected by a switch scanning circuit (3) by sequentially turning on a plurality of switch circuits (SW) and is supplied to a resistor (RaRb) selected by a selector (2). A voltage value converted by the resistor is outputted to an external to compare the voltage value, and a current value of the output current from each output terminal (X) to each column pin or each data line is correct or not is tested. Thus, test time can be shortened.
(FR)Un courant de sortie circulant de chaque borne de sortie (X) d’un circuit d’attaque de panneau électroluminescent organique (10) à chaque broche de colonne ou chaque ligne de données est sélectionné par un circuit de balayage de commutation (3) par fermeture sélective d’une pluralité de circuits de commutation (SW) et est fourni à une résistance (RaRb) sélectionnée par un sélecteur (2). Une valeur de tension convertie par la résistance est fournie à une unité externe pour comparer la valeur de tension, et une valeur de courant du courant de sortie circulant de chaque borne de sortie (X) à chaque broche de colonne ou chaque ligne de données est contrôlée pour déterminer si elle est correcte ou non. La durée de contrôle peut donc être raccourcie.
(JA)not available
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)