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1. (WO2005091059) PANNEAU À CRISTAUX LIQUIDES, DISPOSITIF DE CORRECTION D’ABERRATION, PROCEDE DE CORRECTION D’ABERRATION, ET CAPTEUR OPTIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2005/091059    N° de la demande internationale :    PCT/JP2005/005409
Date de publication : 29.09.2005 Date de dépôt international : 24.03.2005
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    23.01.2006    
CIB :
G02F 1/13 (2006.01), G02F 1/1343 (2006.01), G11B 7/095 (2006.01), G11B 7/135 (2012.01)
Déposants : PIONEER CORPORATION [JP/JP]; 4-1, Meguro 1-chome, Meguro-ku Tokyo 1538654 (JP) (Tous Sauf US).
AKIBA, Taichi [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
NAGATAKE, Hirokatsu [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : AKIBA, Taichi; (JP).
NAGATAKE, Hirokatsu; (JP)
Mandataire : KINOSHITA, Jitsuzo; 3rd. floor, Ogikubo TM building, 26-13, Ogikubo 5-chome, Suginami-ku, Tokyo 167-0051 (JP)
Données relatives à la priorité :
2004-086907 24.03.2004 JP
2004-086927 24.03.2004 JP
2004-086945 24.03.2004 JP
Titre (EN) LIQUID CRYSTAL PANEL, ABERRATION CORRECTING DEVICE, ABERRATION CORRECTING METHOD, AND OPTICAL PICKUP
(FR) PANNEAU À CRISTAUX LIQUIDES, DISPOSITIF DE CORRECTION D’ABERRATION, PROCEDE DE CORRECTION D’ABERRATION, ET CAPTEUR OPTIQUE
(JA) 液晶パネル、収差補正装置、収差補正方法、および、光ピックアップ
Abrégé : front page image
(EN)Five almost flat-circular-shaped pattern electrodes (312A1-312A5) corresponding to the distribution shape of coma aberration are dividedly formed, adjacently, in parallel and in the longitudinal and radial direction and in the direction perpendicular to a radial direction in which an object lens moves, on at least one of transparent electrodes (312A) respectively formed on the inner surfaces of a pair of transparent glass substrates. A voltage affording a phase difference serving as a reverse-polarity coma aberration according to coma aberration occurring on a pupil plane is applied to pattern electrodes (312A2, 312A4) positioned on the opposite sides of a pattern electrode (312A3) corresponding to the center of an object lens pupil diameter (341) to change a refractive index. Accordingly, a high-accuracy coma aberration correction in conformity with the movement of the object lens is possible with a simple pattern division.
(FR)Il est prévu cinq électrodes au motif pratiquement circulaire plat (312A1-312A5) correspondant à la forme de répartition d’aberration de coma, de manière adjacente, en parallèle et dans les directions longitudinale et radiale et dans la direction perpendiculaire à une direction radiale dans laquelle une lentille d’objectif se déplace, sur au moins l’une des électrodes transparentes (312A) formées respectivement sur les surfaces internes d’une paire de substrats de verre transparent. Une tension acceptant une différence de phase servant d’aberration de coma de polarité inverse selon l’aberration de coma se produisant sur un plan de pupille est appliquée aux électrodes de motif (312A2, 312A4) positionnées sur les côtés opposés d’une électrode de motif (312A3) correspondant au centre d’un diamètre de pupille de lentille d’objet (341) pour changer un indice de réfraction. En conséquence, une correction d’aberration de coma de grande précision selon le mouvement de la lentille d’objet est possible avec une simple division de motif.
(JA) 一対の透明なガラス基板の内面にそれぞれ形成した少なくともいずれか一方の透明電極312Aに、対物レンズが移動するラジアル方向に直交する方向に長手状でラジアル方向に5つ隣接して並列に、コマ収差の分布形状に対応した略扁平円形状のパターン電極312A1~312A5を分割形成する。対物レンズの瞳径341の中心が対応するパターン電極312A3の両側に位置するパターン電極312A2,312A4に、瞳面上に発生するコマ収差に応じて逆極性のコマ収差となる位相差を付与させる電圧を印加して屈折率を変更させる。簡単なパターン分割で対物レンズの移動に応じた高精度なコマ収差補正ができる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)