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1. (WO2005090969) ELEMENT D'ANALYSE DESTINE A ETRE UTILISE DANS UN PROCEDE DE TEST D'ECHANTILLON
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2005/090969    N° de la demande internationale :    PCT/JP2005/005067
Date de publication : 29.09.2005 Date de dépôt international : 15.03.2005
CIB :
A61B 5/15 (2006.01), G01N 21/78 (2006.01), G01N 27/327 (2006.01), G01N 31/22 (2006.01), G01N 33/52 (2006.01)
Déposants : FUJI PHOTO FILM CO., LTD. [JP/JP]; 210, Nakanuma, Minami-Ashigara-shi, Kanagawa, 2500193 (JP) (Tous Sauf US).
SAKAINO, Yoshiki; (US Seulement).
ABE, Yoshihiko; (US Seulement).
SUDO, Yukio; (US Seulement)
Inventeurs : SAKAINO, Yoshiki; .
ABE, Yoshihiko; .
SUDO, Yukio;
Mandataire : OGURI, Shohei; Eikoh Patent Office, 7-13, Nishi-Shimbashi 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1050003 (JP)
Données relatives à la priorité :
2004-078210 18.03.2004 JP
Titre (EN) ANALYSIS ELEMENT FOR USE IN METHOD OF TESTING SPECIMEN
(FR) ELEMENT D'ANALYSE DESTINE A ETRE UTILISE DANS UN PROCEDE DE TEST D'ECHANTILLON
Abrégé : front page image
(EN)A multi-component measurement dry analysis element for use in a method for testing a specimen, the method using an area sensor as a detector to obtain a result of measurement according to information of 1000 pixels or more per one component and to perform simultaneous measurements of plural components.
(FR)La présente invention a trait à un élément d'analyse par voie sèche de mesure de constituants multiples destiné à être utilisé dans un procédé pour le test d'un échantillon, le procédé mettant en oeuvre un capteur de surface sous la forme d'un détecteur en vue d'obtenir un résultat de mesure selon une information d'au moins 1000 pixels par constituant et d'effectuer des mesures simultanées d'une pluralité de constituants.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)