WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2005090907) PROCEDE POUR LOCALISER DES ENDROITS DEFECTUEUX ET SYSTEME DE MARQUAGE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2005/090907    N° de la demande internationale :    PCT/EP2005/001312
Date de publication : 29.09.2005 Date de dépôt international : 10.02.2005
CIB :
G01B 11/30 (2006.01), G01N 21/88 (2006.01), G06T 7/00 (2006.01)
Déposants : ISRA VISION SYSTEMS AG [DE/DE]; Industriestrasse 14, 64297 Darmstadt (DE) (Tous Sauf US).
ERSÜ, Enis [DE/DE]; (DE) (US Seulement).
WIENAND, Stephan [DE/DE]; (DE) (US Seulement).
KNOCHE, Horst [DE/DE]; (DE) (US Seulement)
Inventeurs : ERSÜ, Enis; (DE).
WIENAND, Stephan; (DE).
KNOCHE, Horst; (DE)
Mandataire : KEIL & SCHAAFHAUSEN; Cronstettenstrasse 66, 60322 Frankfurt am Main (DE)
Données relatives à la priorité :
10 2004 007 830.0 18.02.2004 DE
Titre (DE) VERFAHREN ZUR LOKALISIERUNG VON FEHLSTELLEN UND MARKIERSYSTEM
(EN) METHOD FOR LOCATING DEFECTIVE POINTS AND MARKING SYSTEM
(FR) PROCEDE POUR LOCALISER DES ENDROITS DEFECTUEUX ET SYSTEME DE MARQUAGE
Abrégé : front page image
(DE)Es wird ein Verfahren und ein Markiersystem zum Lokalisieren von Fehlstellen auf einem dreidimensionalen Objekt (2), insbesondere einer lackierten Fahrzeugkarosse, angegeben, wobei die Fehlstellen mit einer optischen Aufnahmeeinrichtung (3, 4) aufgefunden und lokalisiert werden. Um eine Fehlstelle mit hoher Genauigkeit zu lokalisieren wird vorgeschlagen, dass die Konstruktionsdaten (CAD-Daten) des Objekts (2), die optischen Abbildungseigenschaften der Aufnahmeeinrichtung (3, 4) und des Objekts (2) bei der Bildaufnahme bekannt sind und dass daraus der Fehlerort auf dem Objekt (2) bestimmt und ggf. Mit enem Sprühkopf markiert wird.
(EN)The invention relates to a method and marking system for locating defective points on a three-dimensional object (2), particularly the lacquered bodywork of a vehicle, wherein the defective points are detected and located by means of an optical capture device (3,4). The aim of the invention is to locate a defective point in a highly precise manner. According to the invention, the construction data (CAD data) of the object (2), and the optical imaging properties of the capture device (3,4) and the object (2) are known during the recording of the image and the location of the error is determined on the object therefrom and is optionally marked with a spray head.
(FR)L'invention concerne un procédé et un système de marquage pour localiser des endroits défectueux sur un objet tridimensionnel (2), notamment sur la peinture de la carrosserie d'un véhicule. Selon l'invention, les endroits défectueux sont repérés et localisés au moyen d'un dispositif de balayage optique (3, 4). L'invention vise à localiser de manière précise un endroit défectueux. A cet effet, les données conceptuelles (données CAO) de l'objet (2), les propriétés de reproduction optique du dispositif de balayage (3, 4) et de l'objet (2) sont connues lors de la prise de vue, ce qui permet de déterminer un endroit défectueux sur l'objet (2) et de le marquer éventuellement au moyen d'une tête de pulvérisation.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)