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1. (WO2005088645) DISPOSITIF DE TEST ET MÉTHODE DE TEST
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2005/088645    N° de la demande internationale :    PCT/JP2005/004010
Date de publication : 22.09.2005 Date de dépôt international : 08.03.2005
CIB :
G01R 31/28 (2006.01), G11C 29/00 (2006.01)
Déposants : ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 1-32-1, Asahi-cho, Nerima-ku, Tokyo 1790071 (JP) (AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BE, BF, BG, BJ, BR, BW, BY, BZ, CA, CF, CG, CH, CI, CM, CN, CO, CR, CU, CY, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, FR, GA, GB, GD, GE, GH, GM, GN, GQ, GR, GW, HR, HU, ID, IE, IL, IN, IS, IT, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MC, MD, MG, MK, ML, MN, MR, MW, MX, MZ, NA, NE, NI, NL, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SI, SK, SL, SM, SN, SY, SZ, TD, TG, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW only).
FUJISAKI, Kenichi [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : FUJISAKI, Kenichi; (JP)
Mandataire : RYUKA, Akihiro; 5F, Shinjuku Square Tower 22-1, Nishi-Shinjuku 6-chome Shinjuku-ku, Tokyo 163-1105 (JP)
Données relatives à la priorité :
2004-074057 16.03.2004 JP
Titre (EN) TEST DEVICE AND TEST METHOD
(FR) DISPOSITIF DE TEST ET MÉTHODE DE TEST
(JA) 試験装置及び試験方法
Abrégé : front page image
(EN)A test device includes: a pattern generator for generating an address signal, a data signal, an expectation signal for supply to a memory under test; a logic comparator for outputting fail data when the output signal outputted from the memory under test does not coincide with the expectation signal; a first FBM for storing fail data in the first test; a second FBM for accumulating and storing the fail data stored in the first FBM and the fail data in a second test; and a remedy analysis unit for referencing the fail data stored in the first FBM and performing a defect remedy analysis of the memory under test. The first FBM accumulates and stores the fail data stored in the second FBM and fail data in a third test. The remedy analysis unit further references the fail data stored in the second FBM and performs a defect remedy analysis of the memory under test.
(FR)Le dispositif de test comprend : un générateur de modèle pour générer un signal d’adresse, un signal de données, un signal d’attente à fournir à une mémoire sous test ; un comparateur de logique pour sortir les données d’échec lorsque le signal de sortie extrait de la mémoire sous test ne correspond pas avec le signal d’attente ; un premier FBM pour enregistrer les données d’échec du premier test ; un deuxième FBM pour accumuler et enregistrer les données d’échec du deuxième test ; et une unité d’analyse de solution pour référencer les données d’échec enregistrées dans le premier FBM et effectuer une analyse de solution aux défauts de la mémoire sous test. Le premier FBM accumule et enregistre les données d’échec enregistrées dans le deuxième FBM et des données d’échec d’un troisième test. L’unité d’analyse de solution continue de référencer les données d’échec enregistrées dans le deuxième FBM et effectue un analyse de solution aux défauts de la mémoire sous test.
(JA) 本発明の試験装置は、被試験メモリに供給するアドレス信号、データ信号、及び期待値信号を発生するパターン発生器と、被試験メモリが出力した出力信号と期待値信号とが一致しない場合にフェイルデータを出力する論理比較器と、第1の試験におけるフェイルデータを格納する第1FBMと、第1FBMが格納しているフェイルデータと、第2の試験におけるフェイルデータとを累積して格納する第2FBMと、第1FBMが格納しているフェイルデータを参照して被試験メモリの不良救済解析を行う救済解析部とを備え、第1FBMは、第2FBMが格納しているフェイルデータと、第3の試験におけるフェイルデータとを累積して格納し、救済解析部は、第2FBMが格納しているフェイルデータをさらに参照して被試験メモリの不良救済解析を行う。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)