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1. (WO2005088345) SCINTILLATEUR DESTINE A UN DETECTEUR DE RAYONS X EQUIPE D'UN REFLECTEUR
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2005/088345    N° de la demande internationale :    PCT/IB2005/050622
Date de publication : 22.09.2005 Date de dépôt international : 21.02.2005
CIB :
G01T 1/20 (2006.01)
Déposants : PHILIPS INTELLECTUAL PROPERTY & STANDARDS GMBH [DE/DE]; Steindamm 94, 20099 Hamburg (DE) (DE only).
KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N. V. [NL/NL]; Groenewoudseweg 1, NL-5621 BA Eindhoven (NL) (AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BE, BF, BG, BJ, BR, BW, BY, BZ, CA, CF, CG, CH, CI, CM, CN, CO, CR, CU, CY, CZ, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, FR, GA, GB, GD, GE, GH, GM, GN, GQ, GR, GW, HR, HU, ID, IE, IL, IN, IS, IT, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MC, MD, MG, MK, ML, MN, MR, MW, MX, MZ, NA, NE, NI, NL, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SI, SK, SL, SM, SN, SY, SZ, TD, TG, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW only).
RUETTEN, Walter [DE/DE]; (DE) (US Seulement).
OVERDICK, Michael [DE/DE]; (DE) (US Seulement)
Inventeurs : RUETTEN, Walter; (DE).
OVERDICK, Michael; (DE)
Mandataire : VOLMER, Georg; Philips Intellectual Property & Standards GmbH, Weisshausstr. 2, 52066 Aachen (DE)
Données relatives à la priorité :
04100896.2 05.03.2004 EP
Titre (EN) SCINTILLATOR FOR AN X-RAY DETECTOR WITH A VARIABLE REFLECTOR
(FR) SCINTILLATEUR DESTINE A UN DETECTEUR DE RAYONS X EQUIPE D'UN REFLECTEUR
Abrégé : front page image
(EN)The invention concerns an X-ray detector with a photo-sensitive detector layer (10) above which a scintillation layer (30) for the conversion of X-rays (X) into photons (v) is disposed. Photons (v) are reflected back into the scintillation layer (30) by a reflector (40) that is provided on the scintillation layer (30) for an improved signal gain and signal-to-noise ratio. The reflectivity of the reflector (40) can be externally controlled. This is achieved for example by a reflective layer (41, 42, 43) of E-Ink being disposed between two electrodes (44a, 44b). Thus the reflectivity can be decreased at sufficiently high X-ray doses in order to improve image sharpness and dynamic range of the detector.
(FR)L'invention concerne un détecteur de rayons X à couche détectrice photosensible (10) sur laquelle est placée une couche de scintillation (30) destinée à la conversion de rayons X (X) en photons (v). Les photons (v) sont réfléchis dans la couche de scintillation (30) par un réflecteur (40) qui est placé sur la couche de scintillation (30) afin d'améliorer le gain de signal et le rapport signal-bruit. La réflectivité du réflecteur (40) est supposée pouvoir être contrôlée de l'extérieur. Ceci est réalisé par exemple par une couche réfléchissante (41, 42, 43) d'encre électronique placée entre les deux électrodes (44a, 44b). la réflectivité peut ainsi être réduite à des doses de rayons X suffisamment élevées afin d'améliorer la netteté de l'image et la plage dynamique du détecteur.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)