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1. (WO2005088323) PROCEDE ET CIRCUIT DE MESURE PERMETTANT DE MESURER UNE RESISTANCE ELECTRIQUE INCONNUE EN PRESENCE SIMULTANEE D'UNE TENSION PARASITE FIXE INCONNUE OU D'UN COURANT PARASITE FIXE INCONNU
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2005/088323    N° de la demande internationale :    PCT/DE2004/002712
Date de publication : 22.09.2005 Date de dépôt international : 07.12.2004
CIB :
G01R 27/04 (2006.01), G01R 27/08 (2006.01), G01R 27/14 (2006.01)
Déposants : SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT [DE/DE]; Wittelsbacherplatz 2, 80333 München (DE) (Tous Sauf US).
WILKE, Bernd [DE/DE]; (DE) (US Seulement)
Inventeurs : WILKE, Bernd; (DE)
Représentant
commun :
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT; Postfach 22 16 34, 80506 München (DE)
Données relatives à la priorité :
10 2004 011 549.4 08.03.2004 DE
Titre (DE) VERFAHREN UND SCHALTMESSKREIS ZUR MESSUNG EINES UNBEKANNTEN ELEKTRISCHEN WIDERSTANDES BEI GLEICHZEITIGER ANWESENHEIT EINER UNBEKANNTEN FESTEN STÖRSPANNUNG ODER EINES UNBEKANNTEN FESTEN STÖRSTROMS
(EN) METHOD AND MEASUREMENT CIRCUIT FOR MEASURING AN UNKNOWN ELECTRICAL RESISTANCE IN THE PRESENCE OF AN UNKNOWN FIXED INTERFERENCE VOLTAGE OR A FIXED UNKNOWN INTERFERENCE CURRENT
(FR) PROCEDE ET CIRCUIT DE MESURE PERMETTANT DE MESURER UNE RESISTANCE ELECTRIQUE INCONNUE EN PRESENCE SIMULTANEE D'UNE TENSION PARASITE FIXE INCONNUE OU D'UN COURANT PARASITE FIXE INCONNU
Abrégé : front page image
(DE)Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Messung eines unbekannten elektrischen Widerstandes in einem Stromkreis, wobei in dem Stromkreis gleichzeitig eine unbekannte feste Störspannung vorhanden ist. Dabei werden mit einem zeitlichen Abstand nacheinander zwei sich durch eine unterschiedliche Vorgabe eines messrelevanten Parameters voneinander unterscheidende Messungen des gesamten im Stromkreis vorhandenen elektrischen Widerstandes durchgeführt und unter Anwendung geltender physikalischer Regeln die zwei Messungen derart gemeinsam ausgewertet, dass bei der Auswertung die Störspannung eliminiert und der unbekannte zu messende elektrische Widerstand bestimmt werden kann. Ferner umfasst die vorliegende Erfindung einen entsprechenden Schaltmesskreis.
(EN)The invention relates to a method for the measurement of an unknown electrical resistance in a current circuit, whereby an unknown fixed interference voltage is present in the current circuit. Two independent measurements of the total electrical resistance of the circuit are carried out sequentially with a different setting for a parameter relevant to the measurement and, by application of valid physical laws, the two measurements are analysed together such that on analysis the interfernce voltage is eliminated and the unknown electrical resistance for measurement can be determined. The invention further relates to a corresponding measuring circuit.
(FR)La présente invention concerne un procédé pour mesurer une résistance électrique inconnue dans un circuit électrique, une tension parasite fixe inconnue ou un courant parasite fixe inconnu régnant simultanément dans ce circuit électrique. Selon ledit procédé, deux mesures de la résistance électrique totale, régnant dans le circuit électrique, sont effectuées successivement à certain intervalle de temps, lesquelles mesures se différencient l'une de l'autre par une spécification différente d'un paramètre pertinent en terme de mesure, et ces deux mesures sont évaluées conjointement en application de règles physiques en vigueur, de sorte que, lors de l'évaluation, la tension parasite est éliminée et la résistance électrique inconnue à mesurer peut être déterminée. Ladite invention concerne également un circuit de mesure correspondant.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)