Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales

1. (WO2005085939) PROCEDE D’INSPECTION DE CARTE MATRICIELLE

Pub. No.:    WO/2005/085939    International Application No.:    PCT/JP2005/002816
Publication Date: 15 sept. 2005 International Filing Date: 22 févr. 2005
IPC: G01R 31/00
G02F 1/13
G02F 1/1345
G09F 9/30
Applicants: Toshiba Matsushita Display Technology Co., Ltd.
東芝松下ディスプレイテクノロジー株式会社
YAMAMOTO, Mitsuhiro
山本 光浩
MIYATAKE, Masaki
宮武 正樹
Inventors: YAMAMOTO, Mitsuhiro
山本 光浩
MIYATAKE, Masaki
宮武 正樹
Title: PROCEDE D’INSPECTION DE CARTE MATRICIELLE
Abstract:
Une carte matricielle est pourvue d’une carte sur laquelle une pluralité de lignes de balayage et une pluralité de lignes de signal se croisent, d’une partie de pixels qui est formée sur la carte au voisinage de la partie de croisement et comportant un élément de commutation et un condensateur auxiliaire, et d’une pluralité de rangées de pastilles d’inspection qui sont connectées aux lignes de balayage et aux lignes de signal et agencées conformément à une agencement de sonde d’un équipement d’inspection. Après accumulation de charges dans le condensateur auxiliaire de chaque partie de pixels par connexion de la sonde aux rangées de pastilles d’inspection, les états de la carte matricielle sont inspectés.