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1. (WO2005085830) PROCEDE ET SYSTEME POUR L'ANALYSE DE MASSE D'ECHANTILLONS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2005/085830    N° de la demande internationale :    PCT/CA2005/000216
Date de publication : 15.09.2005 Date de dépôt international : 18.02.2005
CIB :
G01N 27/62 (2006.01), H01J 49/10 (2006.01), H01J 49/40 (2006.01)
Déposants : MDS INC., DOING BUSINESS THROUGH ITS MDS SCIEX DIVISION [CA/CA]; 71 Four Valley Drive, Concord, Ontario L4K 4V8 (CA) (Tous Sauf US).
CHERNUSHEVICH, Igor [CA/CA]; (CA) (US Seulement)
Inventeurs : CHERNUSHEVICH, Igor; (CA)
Mandataire : BERESKIN & PARR; 40 King Street West, Suite 4000, Toronto, Ontario M5H 3Y2 (CA)
Données relatives à la priorité :
60/549,558 04.03.2004 US
Titre (EN) METHOD AND SYSTEM FOR MASS ANALYSIS OF SAMPLES
(FR) PROCEDE ET SYSTEME POUR L'ANALYSE DE MASSE D'ECHANTILLONS
Abrégé : front page image
(EN)A system and method of analyzing a sample is described. The system includes an ion source and a deflector for producing a plurality of ion beams each of which is detected in distinct detection regions. A detection system uses the information obtained from the detection region to analyze the sample.
(FR)L'invention concerne un système et un procédé qui permettent d'analyser un échantillon. Ce système comprend une source d'ions et un déflecteur qui permettent de produire une pluralité de faisceaux d'ions, qui sont chacun détectés dans des régions de détection distinctes. Un système de détection utilise les informations obtenues de la région de détection afin d'analyser l'échantillon.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)