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1. (WO2005083567) PROCEDE DE TEST DE L'ETAT DE DEVELOPPEMENT D'UN SYSTEME DEVELOPPE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2005/083567    N° de la demande internationale :    PCT/EP2005/001558
Date de publication : 09.09.2005 Date de dépôt international : 16.02.2005
CIB :
G06F 11/00 (2006.01)
Déposants : EASTMAN KODAK COMPANY [US/US]; 343 State Street, Rochester, NY 14650 (US) (Tous Sauf US).
SCHNEIDER, Michael [DE/DE]; (DE) (US Seulement).
SCHWEDHELM, Rolf [DE/DE]; (DE) (US Seulement)
Inventeurs : SCHNEIDER, Michael; (DE).
SCHWEDHELM, Rolf; (DE)
Mandataire : LAUERWALD, Jörg; NexPress GmbH, Am Kiel -Kanal 2, D-24106 Kiel (DE)
Données relatives à la priorité :
10 2004 009 227.3 26.02.2004 DE
Titre (EN) METHOD OF TESTING THE DEVELOPMENT STATUS OF A DEVELOPED SYSTEM
(FR) PROCEDE DE TEST DE L'ETAT DE DEVELOPPEMENT D'UN SYSTEME DEVELOPPE
Abrégé : front page image
(EN)The present invention relates to a method of testing the development status, in particular, the degree of quality and/or reliability, preferably the launch readiness, of a developed system, specifically a machine. An object of the invention is to provide a method which permits the differentiated testing of a system. This object is achieved in that problems (Pi), which potentially occur during the operation of the system and which are to be used for testing, are detected and/or defined, that at least one quality criterion (Kn) is used as the default for analyzing the problems, and that the degree of severity (Si) of a specific problem (Pi) is expressed in terms of the ratio of the extent of the occurrence of at least one quality criterion (Kn) regarding this defined problem (Pi) relative to the maximum possible or expected extent (Max Kn) of this specific problem (Pi).
(FR)L'invention concerne un procédé de test de l'état de développement, notamment le degré de qualité et/ou de fiabilité, de préférence, l'aptitude au lancement, d'un système développé, notamment d'une machine. L'invention concerne un procédé permettant de tester de manière différenciée un système. Un tel résultat est obtenu par détection et/ou définition de problèmes (Pi), pouvant avoir lieu au cours du fonctionnement du système et étant utilisés pour le test, par utilisation d'au moins un critère de qualité (Kn) comme défaut pour l'analyse des problèmes et par expression du degré de gravité (Si) d'un problème spécifique (Pi) en termes du rapport de l'étendue de l'occurrence du critère de qualité (Kn) relatif à ce problème défini (Pi) par rapport à l'étendue possible ou prévue maximale (Max Kn) de ce problème spécifique (Pi).
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)