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1. (WO2005083432) PROCEDE ET DISPOSITIF D'ANALYSE DE PUCE MULTIREACTEUR
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2005/083432    N° de la demande internationale :    PCT/CN2004/000839
Date de publication : 09.09.2005 Date de dépôt international : 21.07.2004
CIB :
C12Q 1/68 (2006.01), G01N 33/543 (2006.01)
Déposants : CHENGDU KUACHANG MEDICAL INDUSTRIAL LIMITED [CN/CN]; Doctor Pioneer Park, No.5, Gaopeng Road, Hi-tech Development Zone, Chengdu City, Sichuan 610041 (CN) (Tous Sauf US).
CHENGDU KUACHANG SCIENCE & TECHNOLOGY CO., LTD [CN/CN]; No.1, Tong Zi Lin Middle Rd., Chengdu City, Sichuan 610041 (CN) (Tous Sauf US).
ZOU, Fanglin [CN/CN]; (CN) (US Seulement).
CHEN, Chunsheng [CN/CN]; (CN) (US Seulement).
WANG, Jianxia [CN/CN]; (CN) (US Seulement)
Inventeurs : ZOU, Fanglin; (CN).
CHEN, Chunsheng; (CN).
WANG, Jianxia; (CN)
Mandataire : NTD PATENT & TRADEMARK AGENCY LIMITED BEIJING OFFICE; 10th Floor, Block A, Investment Plaza, 27 Jinrongdajie, Beijing 100032 (CN)
Données relatives à la priorité :
PCT/CN03/01091 19.12.2003 CN
PCT/CN04/00169 04.03.2004 CN
Titre (EN) THE DETECTING METHOD OF CHIP AND THE DETECTING DEVICE
(FR) PROCEDE ET DISPOSITIF D'ANALYSE DE PUCE MULTIREACTEUR
Abrégé : front page image
(EN)The invention relates to a method for analyzing multi-reactor chip, comprises at least one of the following steps: A. increasing the viscosity of the remainder of the reaction quantitatively; B. removing and washing the remainder of the reaction simultaneously; C. weakening the background signal using the high absorbance structure out of the chip; and the step C can also be replaced by the step D: enhancing the background signal using the illuminant and/or reflecting structure out of the chip. The invention also relates to a device for analyzing said multi-reactor chip, comprises at least one of the following functional systems: A. system for increasing the viscosity of the remainder of the reaction quantitatively; B. system for removing and washing the remainder of the reaction simultaneously; C. system for weakening the background signal using the high absorbance structure out of the chip; and the system C can also be replaced by the system D: system for enhancing the background signal using the illuminant or/and reflecting structure out of the chip. The system C and the system D may be mounted at the same device and be used alternatively.
(FR)L'invention concerne un procédé d'analyse de puce multiréacteur. Ce procédé comprend au moins une des étapes suivantes : une étape A consistant à augmenter quantitativement la viscosité des résidus de la réaction ; une étape B consistant à retirer et à laver simultanément les résidus de la réaction ; une étape C consistant à affaiblir le signal de fond au moyen d'une structure à absorbance élevée hors de la puce ; l'étape C pouvant être remplacée par une étape D consistant à renforcer le signal de fond au moyen d'une structure d'éclairage et/ou de réflexion hors de la puce. L'invention concerne également un dispositif d'analyse de ladite puce à réacteurs multiples. Ce dispositif comprend au moins une des systèmes fonctionnels suivants : un système fonctionnel A permettant d'augmenter quantitativement la viscosité des résidus de la réaction ; un système fonctionnel B permettant de retirer et de laver simultanément les résidus de la réaction ; un système fonctionnel C permettant d'affaiblir le signal de fond au moyen de la structure à absorbance élevée hors de la puce ; le système fonctionnel C pouvant être remplacé par un système fonctionnel D permettant de renforcer le signal de fond au moyen de la structure d'éclairage et/ou de réflexion hors de la puce. Les systèmes fonctionnels C et D peuvent être montés sur le même dispositif et être utilisés par alternance.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)