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1. (WO2005083400) ÉQUIPEMENT D’INSPECTION, AFFICHAGE DE CONDITION VIBRATOIRE, PROCÉDÉ D’INSPECTION ET PROCÉDÉ D’AFFICHAGE DE CONDITION VIBRATOIRE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2005/083400    N° de la demande internationale :    PCT/JP2004/002494
Date de publication : 09.09.2005 Date de dépôt international : 01.03.2004
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    01.03.2004    
CIB :
G01H 9/00 (2006.01), G01M 7/00 (2006.01), G01N 21/88 (2006.01), G06T 1/00 (2006.01)
Déposants : TOKYO UNIVERSITY OF AGRICULTURE AND TECHNOLOGY TLO CO., LTD. [JP/JP]; 24-16, Naka-cho 2-chome Koganei-shi, Tokyo 1848588 (JP) (Tous Sauf US).
ISHII, Idaku [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : ISHII, Idaku; (JP)
Mandataire : HASEGAWA, Yoshiki; Soei Patent and Law Firm Ginza First Bldg. 10-6, Ginza 1-chome Chuo-ku, Tokyo 1040061 (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) INSPECTION EQUIPMENT, VIBRATORY CONDITION DISPLAY, INSPECTION METHOD AND VIBRATORY CONDITION DISPLAYING METHOD
(FR) ÉQUIPEMENT D’INSPECTION, AFFICHAGE DE CONDITION VIBRATOIRE, PROCÉDÉ D’INSPECTION ET PROCÉDÉ D’AFFICHAGE DE CONDITION VIBRATOIRE
(JA) 検査装置、振動状態表示装置、検査方法及び振動状態表示方法
Abrégé : front page image
(EN)An inspection equipment (10) comprising a shaking table (12) for mounting an object (1) and imparting a vibration thereto, a camera (14) mounted on the shaking table (12) and picking up the image of the object (1) mounted on the shaking table (12) and imparted with a vibration, a computer (16), and a display (18). In the computer (16), a frequency distribution calculating section (16b) calculates the frequency distribution of luminance for each of a plurality of pixel cells constituting an image picked up by means of the camera (14), and an abnormality detecting section (16c) detects an abnormality of the object (1) and an abnormal position based on the frequency distribution of luminance for each of the plurality of pixel cells calculated at the frequency distribution calculating section (16b). Detection results from the abnormality detecting section (16c) are displayed on the display (18). According to the arrangement, the inspection equipment (10) can detect even a concealed structural defect which cannot be found externally.
(FR)Il est prévu un équipement d’inspection (10) comprenant une table vibrante (12) pour installer un objet (1) et imprimer une vibration à celui-ci, une caméra (14) installée sur la table vibrante (12) et détectant l’image de l’objet (1) installé sur la table vibrante (12) et soumis à une vibration, un ordinateur (16), et un affichage (18). Dans l’ordinateur (16), une section de calcul de répartition de fréquences (16b) calcule la répartition de fréquences de luminance pour chacune d’une pluralité de cellules de pixel constituant une image détectée par la caméra (14), et une section de détection des anomalies (16c) détecte une anomalie de l’objet (1) et une position anormale sur la base de la répartition de fréquences de luminance pour chacune d’une pluralité de cellules de pixel calculées au niveau de la section de calcul de répartition de fréquences (16b). Les résultats de détection provenant de la section de détection des anomalies (16c) sont présentés à l’affichage (18). Selon la configuration, l’équipement d’inspection (10) peut détecter même un défaut structurel caché, impossible à trouver extérieurement.
(JA)検査装置10は、対象物1を載置するとともに対象物1に振動を加える加振台12と、加振台12に載置されて振動を加えられた対象物1を一定時間撮像するカメラ14と、コンピュータ装置16と、ディスプレイ18とを備える。コンピュータ装置16において、周波数分布算出部16bは、カメラ14によって得られた画像を構成する複数のピクセルそれぞれについて輝度の周波数分布を算出し、異常検出部16cは、周波数分布算出部16bによって算出された複数のピクセルそれぞれにおける輝度の周波数分布に基づいて対象物1の異常の有無および異常箇所を検出する。異常検出部16cによる検出結果は、ディスプレイ18に表示される。本構成により、検査装置10は、外観上発見できないような隠れた構造上の欠陥をも検出することができる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)