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1. (WO2005083397) SYSTEME DE DETECTION DE LA TURBIDITE A EFFETS DE TEMPERATURE REDUITS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2005/083397    N° de la demande internationale :    PCT/US2005/005774
Date de publication : 09.09.2005 Date de dépôt international : 24.02.2005
CIB :
A47L 15/42 (2006.01), D06F 39/00 (2006.01), G01N 21/49 (2006.01)
Déposants : ROSEMOUNT ANALYTICAL INC. [US/US]; 2400 Barranca Parkway, Irvine, CA 92606 (US) (Tous Sauf US).
CIOBANU, Calin [US/US]; (US) (US Seulement).
REZVANI, Behzad [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : CIOBANU, Calin; (US).
REZVANI, Behzad; (US)
Mandataire : CHRISTENSON, Christopher, R.; Westman, Champlin & Kelly, Suite 1400, 900 Second Avenue South, Minneapolis, MN 55402-3319 (US)
Données relatives à la priorité :
60/548,084 26.02.2004 US
Titre (EN) TURBIDITY SENSING SYSTEM WITH REDUCED TEMPERATURE EFFECTS
(FR) SYSTEME DE DETECTION DE LA TURBIDITE A EFFETS DE TEMPERATURE REDUITS
Abrégé : front page image
(EN)A turbidity measurement system (100) with an improved thermal behavior is provided. A turbidity measurement system (100) includes an analyzer (102) and one or more turbidity sensors (104, 106). Each turbidity sensor (104, 106) includes a source of illumination and a semiconductor-based illumination sensor. The dark current of the semiconductor­based illumination sensor is measured when no illumination is provided by the source. This measured dark current is then used to provide a dark current­ compensated turbidity measurement.
(FR)La présente invention se rapporte à un système de mesure de la turbidité (100) présentant un comportement thermique amélioré. Le système de mesure de la turbidité (100) selon l'invention comprend un analyseur (102) et un ou plusieurs capteurs de turbidité (104, 106). Chaque capteur de turbidité (104, 106) possède une source d'éclairage et un capteur d'éclairage à semi-conducteur. Le courant d'obscurité du capteur d'éclairage à semi-conducteur est mesuré lorsqu'aucun éclairage n'est émis par la source. Ledit courant d'obscurité mesuré sert ensuite à réaliser une mesure de la turbidité compensée par le courant d'obscurité.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)