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1. (WO2005083389) PROCEDE PERMETTANT DE MESURER LES PROPRIETES DE PARTICULES PAR L'ANALYSE DE FRANGES D'INTERFERENCE, ET APPAREIL CORRESPONDANT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2005/083389    N° de la demande internationale :    PCT/IB2005/000411
Date de publication : 09.09.2005 Date de dépôt international : 18.02.2005
CIB :
G01N 15/02 (2006.01)
Déposants : UNIVERSITA` DEGLI STUDI DI MILANO [IT/IT]; Via Festa del Perdono, 7, I-20122 Milano (IT) (Tous Sauf US).
GIGLIO, Marzio [IT/IT]; (IT) (US Seulement).
POTENZA, Marco, Alberto, Carlo [IT/IT]; (IT) (US Seulement)
Inventeurs : GIGLIO, Marzio; (IT).
POTENZA, Marco, Alberto, Carlo; (IT)
Mandataire : RAMBELLI, Paolo; Jacobacci & Partners SpA, Corso Emilia, 8, I-10152 Torino (IT)
Données relatives à la priorité :
TO2004A000100 20.02.2004 IT
Titre (EN) A METHOD FOR MEASURING PROPERTIES OF PARTICLES BY MEANS OF INTERFERENCE FRINGE ANALYSIS AND CORRESPONDING APPARATUS
(FR) PROCEDE PERMETTANT DE MESURER LES PROPRIETES DE PARTICULES PAR L'ANALYSE DE FRANGES D'INTERFERENCE, ET APPAREIL CORRESPONDANT
Abrégé : front page image
(EN)A method of measuring properties of particles comprises the steps of: generating a beam of radiation (IB) which is propagated along a principal axis (z), illuminating with the beam (IB) an observation region (MR) with particles (B), a portion of the beam (IB) giving rise to radiation (SW) which is scattered by interaction of the portion of the beam (IB) with the particles (B) and another portion (TB) being transmitted substantially undisturbed through the observation region (MR), and detecting, in a plane (M) disposed on the propagation axis (z), radiation intensity values which are determined by the interference between the scattered radiation (SW) and the transmitted radiation (TB). The method further comprises the steps of: identifying systems of interference fringes associated with the particles (B) in which the interference pattern is affected by a phase delay of the scattered radiation (SW) relative to the transmitted radiation (TB), the delay being determined by the interaction of the radiation beam (IB) with the particles (B), and determining the properties of the particles (B) on the basis of the lower-order interference fringes.
(FR)La présente invention se rapporte à un procédé permettant de mesurer des propriétés de particules. Le procédé selon l'invention comprend les étapes consistant : à générer un faisceau de rayonnement (IB) qui est propagé le long d'un axe principal (z) ; à éclairer à l'aide du faisceau (IB) une zone d'observation (MR) dotée de particules (B), une partie du faisceau (IB) donnant naissance à un rayonnement (SW) qui est diffusé par l'interaction de la partie du faisceau (IB) avec les particules (B), et une autre partie (TB) étant transmise sensiblement sans encombre à travers la zone d'observation (MR) ; et à détecter, dans un plan (M) disposé sur l'axe de propagation (z), des valeurs d'intensité de rayonnement qui sont déterminées par l'interférence entre le rayonnement diffusé (SW) et le rayonnement transmis (TB). Le procédé selon l'invention comprend également les étapes consistant : à identifier des systèmes de franges d'interférence associés aux particules (B) dans lesquels le motif d'interférence est modifié par un retard de phase du rayonnement diffusé (SW) par rapport au rayonnement transmis (TB), le retard étant déterminé par l'interaction du faisceau de rayonnement (IB) avec les particules ; et à déterminer les propriétés des particules (B) sur la base des franges d'interférence élémentaires.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : italien (IT)