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1. (WO2005081143) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE CONTRÔLE D’ISOLATION DE SOURCE D’ALIMENTATION DE CARTE À CIRCUIT IMPRIMÉ
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2005/081143    N° de la demande internationale :    PCT/JP2005/002135
Date de publication : 01.09.2005 Date de dépôt international : 14.02.2005
CIB :
G06F 17/50 (2006.01)
Déposants : MATSUSHITA ELECTRIC INDUSTRIAL CO., LTD. [JP/JP]; 1006, Oaza Kadoma, Kadoma-shi, Osaka 5718501 (JP) (Tous Sauf US).
HAMADA, Seiji; (US Seulement).
FUSAYASU, Hirotsugu; (US Seulement).
MIMURA, Shoichi; (US Seulement).
IRIKIIN, Miyoko; (US Seulement)
Inventeurs : HAMADA, Seiji; .
FUSAYASU, Hirotsugu; .
MIMURA, Shoichi; .
IRIKIIN, Miyoko;
Mandataire : KAWAMIYA, Osamu; AOYAMA & PARTNERS, IMP Building, 3-7, Shiromi 1-chome, Chuo-ku, Osaka-shi, Osaka 5400001 (JP)
Données relatives à la priorité :
2004-049453 25.02.2004 JP
Titre (EN) DEVICE AND METHOD FOR CHECKING PRINTED CIRCUIT BOARD POWER SOURCE ISOLATION
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE CONTRÔLE D’ISOLATION DE SOURCE D’ALIMENTATION DE CARTE À CIRCUIT IMPRIMÉ
(JA) プリント基板の電源分離チェック装置および方法
Abrégé : front page image
(EN)A check unit includes: power net extraction means for extracting a power net having power attribute isolated by a power isolation element by referencing the circuit data on the printed circuit board; part number extraction means for extracting the part number of the semiconductor integrated circuit connected to the power net extracted; number-of-parts counting means for counting the number of parts extracted; judgment means for comparing the number of parts counted to a reference value; and display means for displaying the name of the power net and the part number of the semiconductor integrated circuit as a power isolation not-performed position if the number of parts is greater than the reference number. With this configuration, it is possible to inspect in a short period of time, whether the power source used/shared between the semiconductor integrated circuits, between the connectors, and between the semiconductor integrated circuit and the connector is isolated by a power isolation element in a high-frequency way.
(FR)Une unité de contrôle comporte : un moyen d’extraction de réseau d’alimentation pour extraire un réseau d’alimentation ayant un attribut de puissance isolé par un élément d’isolation de puissance par référence aux données de circuit sur la carte à circuit imprimé ; un moyen d’extraction de numéro de référence pour extraire le numéro de référence du circuit intégré semi-conducteur connecté au réseau d’alimentation extrait ; un moyen de comptage de nombre de pièces pour compter le nombre de pièces extraites ; un moyen de jugement pour comparer le nombre de pièces comptées avec une valeur de référence ; et un moyen d’affichage pour afficher le nom du réseau d’alimentation et le numéro de référence du circuit intégré semi-conducteur comme position non réalisée d’isolation d’alimentation si le nombre de pièces est supérieur au nombre de référence. Dans cette configuration, il est possible d’inspecter dans un court laps de temps, si la source d’alimentation utilisée/partagée entre les circuits intégrés semi-conducteurs, entre les connecteurs, et entre le circuit intégré semi-conducteur et le connecteur est isolé par un élément d’isolation d’alimentation à haute fréquence.
(JA) チェック部は、プリント基板の回路設計データを参照して、電源分離素子によって区分された、電源属性を有する電源ネットを抽出するための電源ネット抽出手段と、抽出した電源ネットに接続されている半導体集積回路の部品番号を抽出するための部品番号抽出手段と、抽出した部品数を算出するための部品数算出手段と、算出した部品数と所定の基準値とを比較するための判別手段と、該部品数が基準値より大きい場合、当該電源ネットの名前および当該半導体集積回路の部品番号を電源分離未実施箇所として表示するための表示手段などで構成される。  こうした構成によって、半導体集積回路間、コネクタ間、半導体集積回路−コネクタ間で共有して使用する電源が電源分離素子によって高周波的に分離されているかどうかを短時間で点検できる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)