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1. (WO2005068981) SYSTEME DE CAPTEUR A MICRO-PLASMA
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international

N° de publication : WO/2005/068981 N° de la demande internationale : PCT/US2004/042579
Date de publication : 28.07.2005 Date de dépôt international : 08.12.2004
CIB :
G01N 21/67 (2006.01) ,G01N 21/69 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
62
Systèmes dans lesquels le matériau analysé est excité de façon à ce qu'il émette de la lumière ou qu'il produise un changement de la longueur d'onde de la lumière incidente
66
excité électriquement, p.ex. par électroluminescence
67
en utilisant des arcs électriques ou des décharges électriques
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
62
Systèmes dans lesquels le matériau analysé est excité de façon à ce qu'il émette de la lumière ou qu'il produise un changement de la longueur d'onde de la lumière incidente
66
excité électriquement, p.ex. par électroluminescence
69
spécialement adaptés pour les fluides
Déposants :
HONEYWELL INTERNATIONAL INC. [US/US]; 101 Columbia Road P.O. Box 2245 Morristown, NJ 07960, US (AllExceptUS)
BONNE, Ulrich [US/US]; US (UsOnly)
COLE, Barrett, E. [US/US]; US (UsOnly)
RHODES, Michael, L. [US/US]; US (UsOnly)
Inventeurs :
BONNE, Ulrich; US
COLE, Barrett, E.; US
RHODES, Michael, L.; US
Mandataire :
HOIRIIS, David ; Honeywell International inc. 101 Columbia Road P.O. Box 2245 Morristown, NJ 07960, US
Données relatives à la priorité :
10/749,86331.12.2003US
10/915,57710.08.2004US
Titre (EN) MICRO-PLASMA SENSOR SYSTEM
(FR) SYSTEME DE CAPTEUR A MICRO-PLASMA
Abrégé :
(EN) A micro plasma sensor system having a glow discharge gap. A fluid (17) to be sensed is brought into the vicinity of the discharge (18) at the gap. Emission light from the discharge is coupled to an optical spectrum analyzer (22, 23, 26, 47) for determining properties of the fluid. Window cleanliness and electrode electrical isolation may be maintened by the discharge. The optical analyzer may have individual bandpass filters (22) for two or more optical channels to optical detectors, a Fabry-Perot filter (26) in front of a set of optical detectors (41), or a grating or prism (48) which disperses emission light at various angles according to wavelength to an array of light detectors (49). The optical detectors (23, 41, 49) may output electrical signals to be processed.
(FR) L'invention concerne un système de capteur à micro-plasma comportant un espace de décharge luminescente. Un fluide à analyser peut être introduit dans le voisinage de la décharge au niveau de l'intervalle. L'émission lumineuse produite par la décharge peut être couplée à un analyseur de spectre optique qui permet de déterminer les propriétés du fluide. Ce couplage peut comprendre une fenêtre et des électrodes de mesure de matières en particules sises à proximité de l'espace de décharge. La décharge permet d'entretenir la propreté de la fenêtre et l'isolation électrique des électrodes. Cet analyseur optique peut comprendre des filtres passe-bande individuels pour au moins deux voies optiques reliées à des détecteurs optiques, ou un réseau ou un prisme qui disperse la lumière émise à différents angles selon la longueur d'onde d'un réseau de détecteurs optiques. Ces détecteurs optiques peuvent émettre des signaux électriques qui sont ensuite traités.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : Anglais (EN)
Langue de dépôt : Anglais (EN)
Également publié sous:
EP1700102JP2007517224