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1. (WO2005068965) SYSTEME ET PROCEDE PERMETTANT DE MESURER DES PARAMETRES OPTIQUES ET DE CARACTERISER DES DISPOSITIFS OPTIQUES MULTIPORTS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international

N° de publication : WO/2005/068965 N° de la demande internationale : PCT/BR2005/000004
Date de publication : 28.07.2005 Date de dépôt international : 13.01.2005
CIB :
G01M 11/00 (2006.01) ,H04B 10/08 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
M
ESSAI D'ÉQUILIBRAGE STATIQUE OU DYNAMIQUE DES MACHINES, DES STRUCTURES OU DES OUVRAGES; ESSAI DES STRUCTURES, DES OUVRAGES OU DES APPAREILS, NON PRÉVU AILLEURS
11
Essai des appareils d'optique; Essai des structures ou ouvrages par des méthodes optiques, non prévu ailleurs
H ÉLECTRICITÉ
04
TECHNIQUE DE LA COMMUNICATION ÉLECTRIQUE
B
TRANSMISSION
10
Systèmes de transmission utilisant des ondes électromagnétiques autres que les ondes hertziennes, p.ex. les infrarouges, la lumière visible ou ultraviolette, ou utilisant des radiations corpusculaires, p.ex. les communications quantiques
02
Détails
08
Equipement de surveillance, d'essai ou de mesure des défauts
Déposants :
FIBERWORK COMUNICACÕES OPTICAS LTDA-ME [BR/BR]; Rua Alfredo da Costa Figo, No. 280, Jd Santa Candi da Campinas-SP Brasil- BR CEP: 13.087-534, BR (AllExceptUS)
BARCELOS, Sérgio [BR/BR]; BR (UsOnly)
RANDO, Rafael Faraone [BR/BR]; BR (UsOnly)
SASAKI, Nelson Kiyoshi [BR/BR]; BR (UsOnly)
RIGON, Elso Luiz [BR/BR]; BR (UsOnly)
Inventeurs :
BARCELOS, Sérgio; BR
RANDO, Rafael Faraone; BR
SASAKI, Nelson Kiyoshi; BR
RIGON, Elso Luiz; BR
Mandataire :
VILAGE MARCAS E PATENTES LTDA.; Avenida Rio Branco, No. 37- 9° andar- sala 909 Centro Rio de Janeiro- RJ Brasil- BR CEP: 20.090-003, BR
Données relatives à la priorité :
BR-PI-0400231-813.01.2004BR
Titre (EN) SYSTEM AND METHOD FOR MEASUREMENT OF OPTICAL PARAMETERS AND CHARACTERIZATION OF MULTIPORT OPTICAL DEVICES
(FR) SYSTEME ET PROCEDE PERMETTANT DE MESURER DES PARAMETRES OPTIQUES ET DE CARACTERISER DES DISPOSITIFS OPTIQUES MULTIPORTS
Abrégé :
(EN) System and method for measurement of optical parameters and characterization of multiport optical devices constituted by process control systems, one or more sources of optical test signal (11) (tunable laser source), optical circuit including optical fiber and several other optical components arranged so as to constitute an interferometric optical arrangement, optical connectors, optoeletronic interfaces, photodetectors, analogical electronic; circuits, digital electronic circuits for digital signal processing and electronic circuits for data acquisition, the test and reference optical signals traversing paths with any lengths, that can be identical or distinct, the optical signal traversing at least one of said paths of interferometer being phase- and/or frequency-modulated. The signals of both interferometer arms are summed at a same photodetector (26) that translates to the electric domain the heterodyning of the optic signals, which contain the information of the optical characteristics of the DUT (17) (device under test), the transfer of the optical signals between the diverse ports of the DUT being described by means of the Optical 'S'-Parameters where each 'Sxy' parameter is represented using the formalism of Jones (Jones matrix) and/or the formalism of Muller (Muller matrix) and where all the determinations of the optical characteristics of the DUT (17) (bandwidth, phase, time delay, chromatic dispersion, 2nd order chromatic dispersion, reflectance, reflection coefficient, transmittance of the port 'y' to the port 'x' and vice versa, transmission coefficient of the port 'y' to the port 'x' and vice versa, insertion loss, polarization dependent loss, polarization mode dispersion (DGD/PMD), 2nd order DGD, etc.) are based on said 'Sxy' parameters.
(FR) La présente invention concerne un système et un procédé permettant de mesurer des paramètres optiques et de caractériser des dispositifs optiques multiports comprenant des systèmes de commande de processus, une ou plusieurs sources de signaux de test optique (11) (source laser syntonisable), une fibre optique contenant un circuit optique et plusieurs autres composants optiques disposés de manière à former un ensemble optique interférométrique, des connecteurs optiques, des interfaces optoélectroniques, des photodétecteurs, des circuits électroniques analogiques, des circuits électroniques numériques permettant le traitement de signaux numériques et des circuits électroniques permettant l'acquisition de données. Les signaux optiques de référence et de test traversent les voies à n'importe quelle longueur et ils peuvent être identiques ou distincts ; le signal optique traversant au moins une des voies de l'interféromètre étant modulé en fréquence et/ou en phase. Les signaux des deux brans d'interféromètre sont additionnés au niveau d'un même photodétecteur (26) qui transfère vers le domaine électrique le changement de fréquence simple des signaux optiques, lesquels contiennent les informations relatives aux caractéristiques optiques du dispositif à l'essai (DUT) (17). Le transfert des signaux optiques entre les divers ports du dispositif à l'essai est décrit au moyen des paramètres « S » optiques, chaque paramètre «Sxy» étant représenté par l'intermédiaire du formalisme de Jones (matrice de Jones) et/ou du formalisme de Muller (matrice de Muller) et toutes les terminaisons des caractères optiques du dispositif à l'essai (17) (largeur de bande, phase, retard, dispersion chromatique, dispersion chromatique de deuxième ordre, réflexion, coefficient de réflexion, transmittance du port 'y' vers le port 'x' et vice-versa, coefficient de transmission du port 'y' vers le port 'x' et vice-versa, perte d'insertion, perte dépendant de la polarisation, dispersion de polarisation de mode (DGD/PMD), dispersion de polarisation de deuxième ordre, etc.) sont fondées sur les paramètres 'Sxy'.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : Anglais (EN)
Langue de dépôt : Anglais (EN)
Également publié sous:
EP1709415JP2007518980US20070146721CA2552915