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1. (WO2005068091) DISPOSITIF DE TRI DE PARTICULES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international

N° de publication : WO/2005/068091 N° de la demande internationale : PCT/JP2004/012552
Date de publication : 28.07.2005 Date de dépôt international : 31.08.2004
CIB :
B07B 1/28 (2006.01) ,B07B 1/46 (2006.01)
B TECHNIQUES INDUSTRIELLES; TRANSPORTS
07
SÉPARATION DES SOLIDES; TRIAGE
B
SÉPARATION DE DIFFÉRENTS SOLIDES LES UNS DES AUTRES PAR CRIBLAGE, TAMISAGE OU UTILISATION DE COURANTS DE GAZ; AUTRE SÉPARATION PAR VOIE SÈCHE POUR MATÉRIAU EN VRAC, p.ex. POUR DES OBJETS INDIVIDUELS MANIPULABLES COMME UN MATÉRIAU EN VRAC
1
Criblage, tamisage ou triage des matériaux solides au moyen de treillis, grilles ou systèmes analogues
28
Tamis mobiles non prévus ailleurs, p.ex. à oscillations, à mouvement alternatif, à balancement, à basculement ou à vacillement
B TECHNIQUES INDUSTRIELLES; TRANSPORTS
07
SÉPARATION DES SOLIDES; TRIAGE
B
SÉPARATION DE DIFFÉRENTS SOLIDES LES UNS DES AUTRES PAR CRIBLAGE, TAMISAGE OU UTILISATION DE COURANTS DE GAZ; AUTRE SÉPARATION PAR VOIE SÈCHE POUR MATÉRIAU EN VRAC, p.ex. POUR DES OBJETS INDIVIDUELS MANIPULABLES COMME UN MATÉRIAU EN VRAC
1
Criblage, tamisage ou triage des matériaux solides au moyen de treillis, grilles ou systèmes analogues
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Eléments de structure constitutifs des tamis en général; Nettoyage ou chauffage des tamis
Déposants :
小林製薬株式会社 KOBAYASHI PHARMACEUTICAL CO., LTD. [JP/JP]; 〒5418507 大阪府大阪市中央区道修町四丁目3番6号 Osaka 3-6, Doshomachi 4-chome Chuo-ku, Osaka-shi Osaka 5418507, JP (AllExceptUS)
WATANABE, Takayuki [JP/JP]; JP (UsOnly)
Inventeurs :
WATANABE, Takayuki; JP
Données relatives à la priorité :
2004-00616213.01.2004JP
Titre (EN) PARTICLE SORTING DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE TRI DE PARTICULES
(JA) 粒体選別装置
Abrégé :
(EN) [PROBLEMS] To provide a particle sorting device having high processing capacity capable of reliably sorting out defective particles in the form of two or more particles connected together. [MEANS FOR SOLVING PROBLEMS] A particle sorting device for sorting particles of a predetermined form out of a plurality of particles to be tested. The device comprises two plate bodies (3, 5) formed with a plurality of through-holes (3a, 5a) having a diameter greater than the smallest diameter (x) of particles to be sorted, and vibration imparting devices (9, 11) imparting vibrations to the two plate bodies (3, 5). The two plate bodies (3, 5) are disposed in parallel with each other with a spacing therebetween which is less than the largest diameter (y) of particle bodies.
(FR) L'invention porte sur un dispositif de tri de particules à capacité de traitement élevée, capable de trier de manière fiable des particules défectueuses se présentant sous la forme de deux ou plusieurs particules reliées entre elles. L'invention permet de trier des particules d'une forme prédéterminée parmi une pluralité de particules à tester. Le dispositif comprend deux corps de plaque (3, 5) munis d'une pluralité de trous traversants (3a, 5a) d'un diamètre supérieur au diamètre le plus petit (x) des particules à trier, et des dispositifs vibratoires (9, 11) qui font vibrer les deux corps de plaque (3, 5). Les deux corps de plaque (3, 5) sont disposés en parallèle l'un par rapport à l'autre, à une distance l'un de l'autre qui est inférieure au diamètre le plus grand (y) des corps de particule.
(JA)  【課題】 二個以上が連結した不良の粒体を、高い処理能力で確実に選別することができる粒体選別装置を提供する。  【解決手段】 検査対象となる多数の粒体から所定の形態の粒体を選別するための粒体選別装置であって、選別対象となる粒体の最短径xよりも大きい径を有する多数の貫通孔3a,5aが形成された二枚の板体3,5と、両板体3,5に振動を付与する振動付与装置9,11とを備え、二枚の板体3,5は、粒体の最長径yよりも短い間隔をおいて平行に配置されている。
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : Japonais (JA)
Langue de dépôt : Japonais (JA)