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1. (WO2005066647) DEMODULATEUR A CIRCUIT INTEGRE AMDC COMPORTANT UN GENERATEUR DE CONFIGURATION D'ESSAI INTEGRE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international

N° de publication : WO/2005/066647 N° de la demande internationale : PCT/US2004/043230
Date de publication : 21.07.2005 Date de dépôt international : 21.12.2004
CIB :
G01R 31/28 (2006.01) ,G01R 31/3187 (2006.01) ,G01R 31/319 (2006.01) ,H04B 1/707 (2006.01) ,H04B 17/00 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31
Dispositions pour vérifier les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour l'essai électrique caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28
Essai de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31
Dispositions pour vérifier les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour l'essai électrique caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28
Essai de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
317
Essai de circuits numériques
3181
Essais fonctionnels
3187
Tests intégrés
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31
Dispositions pour vérifier les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour l'essai électrique caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28
Essai de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
317
Essai de circuits numériques
3181
Essais fonctionnels
319
Matériel d'essai, c.à d. circuits de traitement de signaux de sortie
H ÉLECTRICITÉ
04
TECHNIQUE DE LA COMMUNICATION ÉLECTRIQUE
B
TRANSMISSION
1
Détails des systèmes de transmission, non couverts par l'un des groupes H04B3/-H04B13/129; Détails des systèmes de transmission non caractérisés par le milieu utilisé pour la transmission
69
Techniques d'étalement de spectre
707
utilisant une modulation par séquence directe
H ÉLECTRICITÉ
04
TECHNIQUE DE LA COMMUNICATION ÉLECTRIQUE
B
TRANSMISSION
17
Surveillance; Essais
Déposants :
QUALCOMM INCORPORATED [US/US]; 5775 Morehouse Drive San Diego, CA 92121-1714, US (AllExceptUS)
LI, Tao [CN/US]; US (UsOnly)
Inventeurs :
LI, Tao; US
Mandataire :
WADSWORTH, Philip, R. ; 5775 Morehouse Drive San Diego, CA 92121-1714, US
Données relatives à la priorité :
10/749,52630.12.2003US
Titre (EN) CDMA INTEGRATED CIRCUIT DEMODULATOR WITH BUILD-IN TEST PATTERN GENERATION
(FR) DEMODULATEUR A CIRCUIT INTEGRE AMDC COMPORTANT UN GENERATEUR DE CONFIGURATION D'ESSAI INTEGRE
Abrégé :
(EN) Apparatus and method for testing a CDMA integrated circuit including a demodulator for correlating input data with one of a set of codes and a test data pattern generator for spreading input test data with one of the set of codes to form a spread test data and providing the spread test data to the demodulator. The set of codes may be combined with the input test data to generate a set of spread test data which are then fed to the various components of the CDMA chip for testing the various components. In one embodiment, each one of the set of codes comprises a scrambling code and a spreading code.
(FR) Dispositif et procédé servant à effectuer l'essai d'un circuit intégré AMDC comprenant un démodulateur servant à mettre en corrélation des données d'entrée avec l'un d'un ensemble de codes, et un générateur de configuration de données d'essai servant à étaler des données d'essai d'entrée avec l'un de l'ensemble de codes afin d'obtenir des données d'essai étalées, et à transmettre ces données d'essai étalées au démodulateur. Cet ensemble de codes peut être combiné avec des données d'essai d'entrée afin de générer un ensemble de données d'essai étalées qui sont ensuite introduites dans les différents composants de la puce AMDC afin d'en effectuer l'essai. Dans un mode de réalisation, chaque code de l'ensemble de codes comprend un code de brouillage et un code d'étalement.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : Anglais (EN)
Langue de dépôt : Anglais (EN)
Également publié sous:
EP1718982JP2007522700RU02323447JP4625022CA2551565