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1. (WO2005066609) CONSOLE DE MICROSCOPE AFM AVEC FONCTION DE TEST DE NANO-INDENTATIONS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international

N° de publication : WO/2005/066609 N° de la demande internationale : PCT/KR2004/000180
Date de publication : 21.07.2005 Date de dépôt international : 31.01.2004
CIB :
G01N 3/42 (2006.01) ,G01Q 10/00 (2010.01) ,G01Q 60/24 (2010.01) ,G01Q 60/38 (2010.01) ,G01N 3/02 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
3
Recherche des propriétés mécaniques des matériaux solides par application d'une contrainte mécanique
40
Recherche de la dureté ou de la dureté au rebondissement
42
en effectuant des empreintes sous une charge permanente par des dispositifs de pénétration, p.ex. sphère, pyramide
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
Q
TECHNIQUES OU APPAREILS À SONDE À BALAYAGE; APPLICATIONS DES TECHNIQUES DE SONDE À BALAYAGE, p.ex. MICROSCOPIE À SONDE À BALAYAGE [SPM]
10
Dispositions pour le balayage ou le positionnement, c. à d. dispositions pour commander de manière active le mouvement ou la position de la sonde
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
Q
TECHNIQUES OU APPAREILS À SONDE À BALAYAGE; APPLICATIONS DES TECHNIQUES DE SONDE À BALAYAGE, p.ex. MICROSCOPIE À SONDE À BALAYAGE [SPM]
60
Types particuliers de microscopie à sonde à balayage SPM [Scanning-Probe Microscopy] ou appareils à cet effet; Composants essentiels de ceux-ci
24
Microscopie à forces atomiques AFM [Atomic Force Microscopy] ou appareils à cet effet, p.ex. sondes AFM
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
Q
TECHNIQUES OU APPAREILS À SONDE À BALAYAGE; APPLICATIONS DES TECHNIQUES DE SONDE À BALAYAGE, p.ex. MICROSCOPIE À SONDE À BALAYAGE [SPM]
60
Types particuliers de microscopie à sonde à balayage SPM [Scanning-Probe Microscopy] ou appareils à cet effet; Composants essentiels de ceux-ci
24
Microscopie à forces atomiques AFM [Atomic Force Microscopy] ou appareils à cet effet, p.ex. sondes AFM
38
Sondes, leur fabrication ou leur instrumentation correspondante, p.ex. supports
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
3
Recherche des propriétés mécaniques des matériaux solides par application d'une contrainte mécanique
02
Parties constitutives
Déposants :
KOREA INSTITUTE OF MACHINERY & MATERIALS [KR/KR]; 171 Jang-Dong Yuseong-Gu 305-343 Daejeon, KR (AllExceptUS)
LEE, Hak-Joo [KR/KR]; KR (UsOnly)
KIM, Jae-Hyun [KR/KR]; KR (UsOnly)
OH, Chung-Seog [KR/KR]; KR (UsOnly)
HAN, Seung-Woo [KR/KR]; KR (UsOnly)
HUR, Shin [KR/KR]; KR (UsOnly)
KO, Soon-Gyu [KR/KR]; KR (UsOnly)
CHOI, Byung-Ik [KR/KR]; KR (UsOnly)
Inventeurs :
LEE, Hak-Joo; KR
KIM, Jae-Hyun; KR
OH, Chung-Seog; KR
HAN, Seung-Woo; KR
HUR, Shin; KR
KO, Soon-Gyu; KR
CHOI, Byung-Ik; KR
Mandataire :
LEE, Soo-Wan ; 1901-ho, Keungil Tower 19F, 677-25 Yeoksam-dong Gangnam-gu Seoul 135-914, KR
Données relatives à la priorité :
10-2004-000037605.01.2004KR
Titre (EN) AFM CANTILEVER WITH NANOINDENTATION TEST FUNCTIONALITY
(FR) CONSOLE DE MICROSCOPE AFM AVEC FONCTION DE TEST DE NANO-INDENTATIONS
Abrégé :
(EN) The present invention relates to an atomic force microscope (hereinafter, referred to as 'AFM') cantilever having a nanoindentation testing function. An object of the present invention is to provide an AFM cantilever capable of accurately measuring physical properties by solving problems such as lateral motion compensation and indentation depth calculation when performing nanoindentation tests. To achieve the above object, there is provided an AFM cantilever having an indentation testing function in a direction along an axis, which comprises one end mounted on a fixed stage, the other end mounted with an AFM tip, and a hollow frame taking a shape, symmetric with respect to a plane including the axis on which the two ends are positioned.
(FR) Cette invention se rapporte à une console de microscope à forces atomiques (microscope AFM) ayant une fonction de test de nano-indentations. L'un des objectifs de cette invention est de proposer une console de microscope AFM qui est capable de mesurer avec précision les propriétés physiques en résolvant les problèmes tels que la compensation du mouvement latéral et le calcul de la profondeur d'indentations, lors de la réalisation des tests de nano-indentations. Pour réaliser cet objectif, on forme une console de microscope AFM ayant une fonction de test d'indentations dans une direction le long d'un axe, qui comprend une extrémité montée sur un étage fixe, et l'autre extrémité montée sur une pointe du microscope AFM, et un cadre creux de forme symétrique par rapport à un plan contenant l'axe sur lequel sont placées les deux extrémités.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : Anglais (EN)
Langue de dépôt : Coréen (KO)
Également publié sous:
US20060243036