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1. (WO2005065437) JEUX ORDONNES D'ECHANTILLONS ET PROCEDE DE PREPARATION CORRESPONDANT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2005/065437    N° de la demande internationale :    PCT/US2005/000087
Date de publication : 21.07.2005 Date de dépôt international : 03.01.2005
CIB :
G01R 31/02 (2006.01)
Déposants : MICROFABRICA INC. [US/US]; 1103 West Isabel Street, Burbank, CA 91506 (US) (Tous Sauf US).
KUMAR, Ananda, H. [US/US]; (US) (US Seulement).
KRUGLICK, Ezekiel, J., J. [US/US]; (US) (US Seulement).
COHEN, Adam, L. [US/US]; (US) (US Seulement).
KIM, Kieun [US/US]; (US) (US Seulement).
ZANG, Gang [CN/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : KUMAR, Ananda, H.; (US).
KRUGLICK, Ezekiel, J., J.; (US).
COHEN, Adam, L.; (US).
KIM, Kieun; (US).
ZANG, Gang; (US)
Mandataire : SMALLEY, Dennis, R.; 1103 West Isabel Street, Burbank, CA 91506 (US)
Données relatives à la priorité :
60/533,947 31.12.2003 US
60/533,933 31.12.2003 US
60/536,865 15.01.2004 US
60/540,511 29.01.2004 US
10/772,943 04.02.2004 US
10/949,738 24.09.2004 US
Titre (EN) PROBE ARRAYS AND METHOD FOR MAKING
(FR) JEUX ORDONNES D'ECHANTILLONS ET PROCEDE DE PREPARATION CORRESPONDANT
Abrégé : front page image
(EN)Embodiments of invention are directed to the formation of microprobes (i.e., compliant electrical or electronic contact elements, 404) on a temporary substrate (422), dicing individual probe arrays (404a, 404b, 404c), and then transferring the arrays (404a, 404b, 404c) to space transformers or other permanent substrates (406).
(FR)Des modes de réalisation de l'invention concernent la formation de microéchantillons (c.-à-d. d'éléments de contact électriques ou électroniques compliants) sur un substrat temporaire, le quadrillage des jeux ordonnés d'échantillons individuels, puis le transfert des jeux ordonnés d'échantillons à des transformateurs d'espace ou à des substrats permanents.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)