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1. (WO2005065437) JEUX ORDONNES D'ECHANTILLONS ET PROCEDE DE PREPARATION CORRESPONDANT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international

N° de publication : WO/2005/065437 N° de la demande internationale : PCT/US2005/000087
Date de publication : 21.07.2005 Date de dépôt international : 03.01.2005
CIB :
G01R 31/02 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31
Dispositions pour vérifier les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour l'essai électrique caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
02
Essai des appareils, des lignes ou des composants électriques pour y déceler la présence de courts-circuits, de discontinuités, de fuites ou de connexions incorrectes de lignes
Déposants :
MICROFABRICA INC. [US/US]; 1103 West Isabel Street Burbank, CA 91506, US (AllExceptUS)
KUMAR, Ananda, H. [US/US]; US (UsOnly)
KRUGLICK, Ezekiel, J., J. [US/US]; US (UsOnly)
COHEN, Adam, L. [US/US]; US (UsOnly)
KIM, Kieun [US/US]; US (UsOnly)
ZANG, Gang [CN/US]; US (UsOnly)
Inventeurs :
KUMAR, Ananda, H.; US
KRUGLICK, Ezekiel, J., J.; US
COHEN, Adam, L.; US
KIM, Kieun; US
ZANG, Gang; US
Mandataire :
SMALLEY, Dennis, R.; 1103 West Isabel Street Burbank, CA 91506, US
Données relatives à la priorité :
10/772,94304.02.2004US
10/949,73824.09.2004US
60/533,93331.12.2003US
60/533,94731.12.2003US
60/536,86515.01.2004US
60/540,51129.01.2004US
Titre (EN) PROBE ARRAYS AND METHOD FOR MAKING
(FR) JEUX ORDONNES D'ECHANTILLONS ET PROCEDE DE PREPARATION CORRESPONDANT
Abrégé :
(EN) Embodiments of invention are directed to the formation of microprobes (i.e., compliant electrical or electronic contact elements, 404) on a temporary substrate (422), dicing individual probe arrays (404a, 404b, 404c), and then transferring the arrays (404a, 404b, 404c) to space transformers or other permanent substrates (406).
(FR) Des modes de réalisation de l'invention concernent la formation de microéchantillons (c.-à-d. d'éléments de contact électriques ou électroniques compliants) sur un substrat temporaire, le quadrillage des jeux ordonnés d'échantillons individuels, puis le transfert des jeux ordonnés d'échantillons à des transformateurs d'espace ou à des substrats permanents.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : Anglais (EN)
Langue de dépôt : Anglais (EN)