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1. (WO2005064354) APPAREIL DE CONTROLE DE TRACES DE CIRCUIT ET PROCEDE DE CONTROLE DE TRACES DE CIRCUIT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2005/064354    N° de la demande internationale :    PCT/JP2004/019805
Date de publication : 14.07.2005 Date de dépôt international : 27.12.2004
CIB :
G01R 31/02 (2006.01), H05K 3/00 (2006.01)
Déposants : OHT INC. [JP/JP]; 1118-1, Aza-Nishichujo Kannabe-cho Fukuyama-shi, Hiroshima 720-2103 (JP) (Tous Sauf US).
YAMAOKA, Shuji [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
HAMORI, Hiroshi [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
ISHIOKA, Shogo [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : YAMAOKA, Shuji; (JP).
HAMORI, Hiroshi; (JP).
ISHIOKA, Shogo; (JP)
Données relatives à la priorité :
2003-436849 26.12.2003 JP
2004-382849 25.12.2004 JP
Titre (EN) CIRCUIT PATTERN TESTING APPARATUS AND CIRCUIT PATTERN TESTING METHOD
(FR) APPAREIL DE CONTROLE DE TRACES DE CIRCUIT ET PROCEDE DE CONTROLE DE TRACES DE CIRCUIT
(JA) 回路パターン検査装置及び回路パターン検査方法
Abrégé : front page image
(EN)A circuit testing apparatus capable of accurately and easily detecting failures of circuit boards. During testing a pattern arranged in a line, a test signal supplying electrode (35) and test signal detection sensor electrodes (25) are shifted in such a manner that they traverse the tested pattern (15) with a predetermined distance kept therefrom. Meanwhile, test signals, which have been supplied from the supplying electrode (35) through a capacitive coupling to the tested pattern (15), are detected by the sensor electrodes (25) that are also capacitively coupled with the tested pattern. If the successively detected test signal values are constant to some degree, then it is determined that no failures are existent. If the successively detected test signal values exhibit an abrupt change, then it is determined that some failures are existent.
(FR)La présente invention a trait à un appareil de contrôle de circuit permettant la détection précise et aisée de défaillances de cartes de circuit imprimé. Lors d'un contrôle un tracé disposé en une ligne, une électrode fournissant un signal d'essai (35) et des électrodes de détection de signal d'essai (25) sont déplacés de sorte qu'elles traversent le tracé contrôlé (15) à une distance prédéterminée maintenue de celui-ci. Entre-temps, des signaux d'essai qui ont été fournis depuis l'électrode d'alimentation (35) à travers un couplage capacitif avec le tracé contrôlé (15), sont détectés par les électrodes de détection (25) qui sont également en couplage capacitif avec le tracé contrôlé. Si les valeurs des signaux d'essai détectés en succession sont constantes jusqu'à un certain point, alors il est déterminé qu'il n'existe aucune défaillance. Si les valeurs des signaux d'essai détectés en succession présentent une modification brusque, alors il est déterminé que certaines défaillances existent.
(JA)確実且つ容易に回路基板の不良を検出できる回路検査装置を提供する。列状に配設された検査対象パターンを検査する際に、検査対象パターン15にパターンと所定距離離間させた状態を保ちつつ検査信号供給電極35と検査信号検出センサ電極25を検査対象パターンを横切るように移動させ、供給電極35から容量結合により検査対象パターン15に供給された検査信号を同じく検査対象パターンと容量結合されたセンサ電極で検出し、検出信号値がある程度の連続した一定値である場合には良品と判断し、急激な検出信号値の変化があった場合には不良と判断する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)