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1. (WO2005064338) MICROPARTICULES DESTINEES A ETRE EMPLOYEES DANS DES PROCEDES DIAGNOSTIQUES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2005/064338    N° de la demande internationale :    PCT/US2004/043538
Date de publication : 14.07.2005 Date de dépôt international : 23.12.2004
CIB :
G01N 33/543 (2006.01), G01N 33/574 (2006.01)
Déposants : UNIVERSITY OF FLORIDA RESEARCH FOUNDATION, INC. [US/US]; 223 Grinter Hall, Gainesville, FL 32611 (US) (Tous Sauf US).
BATICH, Christopher, D. [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : BATICH, Christopher, D.; (US)
Mandataire : MORRISON, Jenna, M.; Saliwanchik, Lloyd & Saliwanchik, P.O. Box 142950, Gainesville, FL 32616-2950 (US)
Données relatives à la priorité :
60/532,167 23.12.2003 US
Titre (EN) MICROPARTICLES FOR USE IN DIAGNOSTIC METHODS
(FR) MICROPARTICULES DESTINEES A ETRE EMPLOYEES DANS DES PROCEDES DIAGNOSTIQUES
Abrégé : front page image
(EN)The present invention concerns novel materials and methods to detect low frequency surface changes utilizing modified microspheres. Upon exposing the surface to the modified microspheres of the subject invention, the microspheres selectively adhere to any targeted surface marker.
(FR)La présente invention concerne de nouveaux éléments et procédés destinés à la détection de changements de surface basse fréquence au moyen de microsphères modifiées. Par exposition de la surface aux microsphères modifiées selon l'invention, les microsphères adhèrent sélectivement à tout marqueur de surface ciblé.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)