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1. (WO2005062084) ELEMENT POUR LE GUIDAGE DE RAYONS AVEC SELECTION SPECTRALE DANS DES DISPOSITIFS OPTIQUES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international

N° de publication : WO/2005/062084 N° de la demande internationale : PCT/EP2004/014316
Date de publication : 07.07.2005 Date de dépôt international : 16.12.2004
CIB :
G01J 3/18 (2006.01) ,G02B 5/18 (2006.01) ,G02B 5/20 (2006.01) ,G02B 27/14 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
J
MESURE DE L'INTENSITÉ, DE LA VITESSE, DU SPECTRE, DE LA POLARISATION, DE LA PHASE OU DES CARACTÉRISTIQUES D'IMPULSIONS DE LUMIÈRE INFRAROUGE, VISIBLE OU ULTRAVIOLETTE; COLORIMÉTRIE; PYROMÉTRIE DES RADIATIONS
3
Spectrométrie; Spectrophotométrie; Monochromateurs; Mesure de la couleur
12
Production du spectre; Monochromateurs
18
en utilisant des éléments diffractants, p.ex. réseaux
G PHYSIQUE
02
OPTIQUE
B
ÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
5
Eléments optiques autres que les lentilles
18
Grilles de diffraction
G PHYSIQUE
02
OPTIQUE
B
ÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
5
Eléments optiques autres que les lentilles
20
Filtres
G PHYSIQUE
02
OPTIQUE
B
ÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
27
Autres systèmes optiques; Autres appareils optiques
10
Systèmes divisant ou combinant des faisceaux
14
fonctionnant uniquement par réflexion
Déposants :
CARL ZEISS SMS GMBH [DE/DE]; Carl-Zeiss-Promenade 10 07745 Jena, DE (AllExceptUS)
STEINER, Reinhard [DE/DE]; DE (UsOnly)
DOBSCHAL, Hans-Jürgen [DE/DE]; DE (UsOnly)
ENGEL, Thomas [DE/DE]; DE (UsOnly)
Inventeurs :
STEINER, Reinhard; DE
DOBSCHAL, Hans-Jürgen; DE
ENGEL, Thomas; DE
Représentant
commun :
HAMPE, Holger; c/o Carl Zeiss Jena GmbH Carl-Zeiss-Promenade 10 07745 Jena, DE
Données relatives à la priorité :
103 59 752.219.12.2003DE
Titre (DE) ELEMENT ZUR SPEKTRALSELEKTIVEN STRAHLFÜHRUNG IN OPTISCHEN GERÄTEN
(EN) ELEMENT FOR SPECTRAL-SELECTIVE BEAM POSITIONING IN OPTICAL APPLIANCES
(FR) ELEMENT POUR LE GUIDAGE DE RAYONS AVEC SELECTION SPECTRALE DANS DES DISPOSITIFS OPTIQUES
Abrégé :
(DE) Das Element zur spektralselektiven Strahlführung dient der Ausfilterung breitbandiger bis zu extrem schmalbandiger Verteilungen aus den Emissionsspektren von Beleuchtungssystemen. Das erfindungsgemäße Element besteht aus einem zumindest teilweise transparenten Trägersubstrat mit ein oder zwei spektralselektiven Schichten, bei dem eine erste spektralselektive Schicht als diffraktive Beugungsstruktur und die mögliche zweite spektralselektive Schicht als Spiegelschicht oder ebenfalls als diffraktive Beugungsstruktur ausgeführt sind, wobei die diffraktive Beugungsstruktur(en) jeweils für mindestens ein schmalbandiges Spektrum und die Spiegelschicht für mindestens ein weiteres Spektrum reflektiv wirken und die aus dem Emissionsspektrum selektierten Spektren in die gleiche Richtung reflektiert werden. Durch Kombination der Elemente sind die unterschiedlichsten spektralen Verteilungen selektierbar. Derartige Anordnungen sind außer in Mikroskopen, auch in Projektionssystemen, in Beleuchtungssystemen für Fluoreszenzlicht-Anwendungen und Photometrie, als dichroitische Strahlteilersysteme und bei Umkehrung der Strahlrichtung bei Systemen zur Überlagerung von Strahlen oder aber auch in Systemen zur Spektralanalyse anwendbar.
(EN) The invention relates to an element for spectral-selective beam positioning. Said element is used to filter out wide-band to extremely narrow-band distributions from the emission spectra of illumination systems, and consists of an at least partially transparent carrier substrate comprising one or two spectral-selective layers. According to the invention, a first spectral-selective layer is embodied as a diffraction structure, and the possible second spectral-selective layer is embodied as a mirror layer or as a diffraction structure, the diffraction structures respectively acting in a reflective manner for at least one narrow-band spectrum and the mirror layer respectively acting in a reflective manner for at least one other spectrum. The spectra selected from the emission spectrum are reflected in the same direction. By combining the elements, the most different spectral distributions can be selected. Such arrangements can not only be used in microscopes, but also in projection systems, in illumination systems for fluorescence light applications and photometry, as dichroitic beam splitter systems, and in the inversion of the beam direction in systems for superimposing beams or also in systems for spectral analysis.
(FR) L'invention concerne un élément pour le guidage de rayons avec sélection spectrale qui sert à l'élimination par filtrage des distributions dans la plage bande large-bande extrêmement étroite à partir des spectres d'émission de systèmes d'éclairage. L'élément selon l'invention est constitué d'un substrat support au moins partiellement transparent présentant au moins deux couches à sélection spectrale, une première couche à sélection spectrale constituant une structure de diffraction et la seconde couche éventuelle à sélection spectrale constituant une couche miroir ou éventuellement aussi une structure de diffraction. La structure ou les structures de diffraction agissent respectivement pour refléter au moins un spectre à bande étroite et la couche miroir agit pour refléter au moins un autre spectre, les spectres sélectionnés à partir du spectre d'émission étant réfléchis dans la même direction. Par combinaison de tels éléments, les distributions spectrales les plus différentes peuvent être sélectionnées. De tels agencements peuvent être utilisés non seulement dans des microscopes, mais également dans des systèmes de projection, dans des systèmes d'éclairage pour les applications faisant appel à la fluorescence et pour la photométrie, en tant que systèmes diviseurs de rayons dichroïques et pour l'inversion du sens des rayons dans des systèmes servant à la superposition de rayons ou aussi dans des systèmes d'analyse spectrale.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : Allemand (DE)
Langue de dépôt : Allemand (DE)