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PATENTSCOPE

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1. (WO2005061987) MESURE DE LA QUALITE DE POLISSAGE D'UN METAL
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2005/061987 N° de la demande internationale : PCT/US2004/028092
Date de publication : 07.07.2005 Date de dépôt international : 27.08.2004
CIB :
G01B 11/06 (2006.01) ,G01N 21/35 (2006.01) ,G01N 21/55 (2006.01) ,G01N 21/57 (2006.01)
Déposants : SHELLEY, Paul, H.[US/US]; US (AllExceptUS)
DAVIS, Bruce, R.[US/US]; US (AllExceptUS)
THE BOEING COMPAGNY[US/US]; P.O. Box 3707, M/S 11-XT Seattle, WA 98124-2207, US (AllExceptUS)
Inventeurs : SHELLEY, Paul, H.; US
DAVIS, Bruce, R.; US
Mandataire : GALBRAITH, Ann, K.; The Boeing Company P.O. Box 3707, M/S 11-XT Seattle, WA 98124-2207, US
Données relatives à la priorité :
10/653,01428.08.2003US
Titre (EN) MEASUREMENT OF METAL POLISH QUALITY
(FR) MESURE DE LA QUALITE DE POLISSAGE D'UN METAL
Abrégé : front page image
(EN) A value of infrared energy reflected from a metallic substrate with a polished surface is determined. The value of the infrared energy reflected, or conversely absorbed, is correlated to a quality of polish. According to an aspect of the invention, one embodiment of the invention utilizes an infrared spectrometer to determine the infrared absorbance of a polished metallic substrate. An infrared beam is reflected off the metallic substrate. The infrared energy of the reflected beam is compared with a pre- determined value of infrared energy reflected off a reference polish surface.
(FR) L'invention concerne la détermination d'une valeur d'énergie infrarouge réfléchie par un substrat métallique pourvu d'une surface polie. La valeur de l'énergie infrarouge réfléchie ou, inversement, absorbée, est mise en corrélation avec une qualité de polissage. Dans un aspect de l'invention, on utilise dans un mode de réalisation un spectromètre infrarouge pour déterminer l'absorbance infrarouge d'un substrat métallique poli. Un faisceau infrarouge est réfléchi à partir du substrat métallique. L'énergie infrarouge du faisceau réfléchi est comparée à une valeur prédéterminée d'énergie infrarouge réfléchie à partir d'une surface polie de référence.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)