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1. (WO2005060577) COMPENSATION ADAPTATIVE DES DISTORSIONS DE MESURE EN SPECTROSCOPIE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2005/060577    N° de la demande internationale :    PCT/US2004/040739
Date de publication : 07.07.2005 Date de dépôt international : 07.12.2004
CIB :
G01D 18/00 (2006.01)
Déposants : INLIGHT SOLUTIONS, INC. [US/US]; 800 Bradbury, SE, Albuquerque, NM 87106 (US) (Tous Sauf US).
BROWN, Christopher, D. [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : BROWN, Christopher, D.; (US)
Mandataire : INLIGHT SOLUTIONS, INC.; Attn: General Counsel, 800 Bradbury SE, Albuquerque, NM 87106 (US)
Données relatives à la priorité :
10/733,195 11.12.2003 US
Titre (EN) ADAPTIVE COMPENSATION FOR MEASUREMENT DISTORTIONS IN SPECTROSCOPY
(FR) COMPENSATION ADAPTATIVE DES DISTORSIONS DE MESURE EN SPECTROSCOPIE
Abrégé : front page image
(EN)Methods of reducing the effects of measurement device artifacts on a measurement of a sample are presented. A number of reference measurements performed with the measurement device are observed to identify reference independent components of the reference measurements. The variations of the reference independent components are used as surrogates for possible a artifacts of the measurement device. A number of measurements of subjects similar to the sample are observed, and similarity components of the subject measurements that vary in a manner similar to the reference independent components may be identified. The sample measurement is then adjusted to remove at least part of the similarity components that correspond to the variations in the reference independent components. The adjustment of the sample measurement is thereby improved by reducing the effects of artifacts of the measurement device.
(FR)Cette invention se rapporte à des procédés servant à réduire les effets des artefacts d'un dispositif de mesure sur la mesure d'un échantillon. A cet effet, on observe un certain nombre de mesures de référence effectuées avec le dispositif de mesure pour identifier les composants, indépendants des références, de ces mesures de référence. Les variations des composants indépendants des références sont utilisées comme substitut des artefacts éventuels du dispositif de mesure. Un certain nombre de mesures de sujets similaires à l'échantillon sont observées et les composants de similarité des mesures de ce sujet qui varient de façon similaire aux composants indépendants des références peuvent être identifiés. La mesure de l'échantillon est ensuite ajustée pour éliminer au moins une partie des composants de similarité qui correspondent aux variations des composants indépendants des références. On améliore l'ajustement de la mesure de l'échantillon en réduisant les effets des artefacts du dispositif de mesure.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)