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1. (WO2005047875) APPAREIL ET PROCEDE DE CONTROLE DE LA QUALITE DE SURFACE DE PRODUITS ALLONGES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2005/047875    N° de la demande internationale :    PCT/IB2004/052383
Date de publication : 26.05.2005 Date de dépôt international : 11.11.2004
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    07.06.2005    
CIB :
G01N 25/72 (2006.01), G01N 33/20 (2006.01)
Déposants : CENTRO SVILIPPO MATERIALI S.P.A. [IT/IT]; Via di Castel Romano, 100-102, I-00129 Roma (IT) (Tous Sauf US).
ORI MARTIN - ACCIAIERIA E FERRIERA DI BRESCIA S.P.A. [IT/IT]; Corso Garibaldi, 49, I-20121 Milano (IT) (Tous Sauf US).
MOROLI, Valerio [IT/IT]; (IT) (US Seulement).
PIANCALDINI, Roberto [IT/IT]; (IT) (US Seulement)
Inventeurs : MOROLI, Valerio; (IT).
PIANCALDINI, Roberto; (IT)
Mandataire : ROMANO, Giuseppe; Società Italiana Brevetti S.p.A., Piazza di Pietra 39, I-00186 Roma (IT)
Données relatives à la priorité :
RM2003A000524 12.11.2003 IT
Titre (EN) APPARATUS AND METHOD FOR CONTROL OF SURFACE QUALITY OF ELONGATED PRODUCTS
(FR) APPAREIL ET PROCEDE DE CONTROLE DE LA QUALITE DE SURFACE DE PRODUITS ALLONGES
Abrégé : front page image
(EN)The present application refers to an apparatus and a method for control of surface quality of elongated products, in particular for detection of defects in the products, like, e.g., the presence of cracks, based on the fact that the inspection relies on measuring the radiation generated directly by the hot product, using high-resolution CCD (Charged Coupled Device) cameras.
(FR)La présente demande se rapporte à un appareil et un procédé de contrôle de la qualité de surface de produits allongés, et notamment de détection de défauts tels que les fissures, ce contrôle étant basé sur une mesure du rayonnement produit directement par un produit à chaud, à l'aide de caméras de type CCD à haute définition.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : italien (IT)