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1. (WO2005046301) MACHINE BRAS-TRANSFERT DOTEE D'UNE FONCTION AMELIOREE D'INSPECTION DE PLACEMENT DE COMPOSANTS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2005/046301    N° de la demande internationale :    PCT/US2004/036238
Date de publication : 19.05.2005 Date de dépôt international : 29.10.2004
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    03.06.2005    
CIB :
H05K 13/04 (2006.01), H05K 13/08 (2006.01)
Déposants : CYBEROPTICS CORPORATION [US/US]; 5900 Golden Hills Drive, Golden Valley, MN 55416 (US) (Tous Sauf US)
Inventeurs : GAIDA, John, D.; (US)
Mandataire : CHRISTENSON, Christopher, R.; Westman, Champlin & Kelly, Suite 1400, 900 Second Avenue South, Minneapolis, MN 55402-3319 (US)
Données relatives à la priorité :
60/517,184 04.11.2003 US
10/970,355 21.10.2004 US
Titre (EN) PICK AND PLACE MACHINE WITH IMPROVED COMPONENT PLACEMENT INSPECTION
(FR) MACHINE BRAS-TRANSFERT DOTEE D'UNE FONCTION AMELIOREE D'INSPECTION DE PLACEMENT DE COMPOSANTS
Abrégé : front page image
(EN)Embodiments of the present invention improve upon component level inspection performed by pick and place machines (10, 201). Such improvements include using a position sensitive device (230) that measures the position of the placement head (206) relative to the workpiece (203) as the placement head (206) travels towards and away from the workpiece (203) during a placement cycle. The output of this sensor (230) is used to selectably trigger the acquisition of the images used to measure a placement characteristic of the component placement machine (10, 201).
(FR)Des modes de réalisation de la présente invention concernent des améliorations de l'inspection des niveaux de composants réalisées par des machines bras-transfert (10, 201). De telles améliorations comportent l'utilisation d'un dispositif sensible à la position (230) qui permet de mesurer la position de la tête de placement (206) par rapport à la pièce (203), à mesure que la tête de placement (206) se déplace en direction de la pièce (203) et s'en éloigne, durant le cycle de placement. Le rendement de ce détecteur (230) est utilisé pour déclencher de manière sélective l'acquisition des images afin de mesurer une caractéristique de placement de la machine de placement de composants (10, 201).
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)