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1. (WO2005045877) SOURCE D'IONS A DOUBLE FILAMENT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2005/045877    N° de la demande internationale :    PCT/AU2004/000570
Date de publication : 19.05.2005 Date de dépôt international : 03.05.2004
CIB :
H01J 49/14 (2006.01)
Déposants : SAINTECH PTY LTD [AU/AU]; 6/43 College Street, Gladesville, NSW 2111 (AU) (Tous Sauf US).
SAINTY, Wayne [AU/AU]; (AU) (US Seulement).
WALLER, William [AU/AU]; (AU) (US Seulement)
Inventeurs : SAINTY, Wayne; (AU).
WALLER, William; (AU)
Mandataire : GARDNER, Darren; Saintech Pty Ltd, PO Box 3042, Monash Park, NSW 2111 (AU)
Données relatives à la priorité :
2003906002 31.10.2003 AU
Titre (EN) DUAL FILAMENT ION SOURCE
(FR) SOURCE D'IONS A DOUBLE FILAMENT
Abrégé : front page image
(EN)In a gridless ion source, there is provided a cathode system having dual thermionic filaments (515, 516). The first filament (515) is operated at an electron emission temperature to provide a source of electrons to the ion source. The state of the first filament is monitored by a control circuit (500) and upon failure of the first filament, the control circuit switches in the second filament (516). In preferred embodiments, the switching of the second filament is latched and is automatically reset to the first filament upon shut down of the ion source.
(FR)Selon l'invention, une source d'ions sans grille est fournie dans un système cathodique présentant deux filaments thermoélectroniques (515, 516). Le premier filament (515) est activé à une température d'émission d'électrons afin qu'une source d'électrons soit fournie à la source d'ions. L'état du premier filament est surveillé par un circuit de commande (500) et en cas de défaillance du premier filament, le circuit de commande commute sur le deuxième filament (516). Dans des modes de réalisation préférés, la commutation du deuxième filament est maintenue et est automatiquement réinitialisée sur le premier filament après mise hors tension de la source d'ions.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)