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1. (WO2005045598) PROCEDE ET APPAREIL DE CONTROLE DE MODULES A RESEAU LINEAIRE HAUTE FREQUENCE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2005/045598    N° de la demande internationale :    PCT/US2004/031194
Date de publication : 19.05.2005 Date de dépôt international : 23.09.2004
CIB :
G01N 29/00 (2006.01), G01N 29/04 (2006.01)
Déposants : USUT LABS, INC. [US/US]; 12515 E. 55th Street, Suite 101, Tulsa, OK 74146 (US) (Tous Sauf US).
WULF, Dennis [US/US]; (US) (US Seulement).
BUSSE, Larry [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : WULF, Dennis; (US).
BUSSE, Larry; (US)
Mandataire : HINRICHS, Chad, M.; Doerner, Saunders, Daniel & Anderson, L.L.P., 320 S. Boston Ave., Suite 500, Tulsa, OK 74103 (US)
Données relatives à la priorité :
60/509,016 04.10.2003 US
10/947,561 22.09.2004 US
Titre (EN) METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING PARTS WITH HIGH FREQUENCY LINEAR ARRAY
(FR) PROCEDE ET APPAREIL DE CONTROLE DE MODULES A RESEAU LINEAIRE HAUTE FREQUENCE
Abrégé : front page image
(EN)An apparatus and method for a nondestructive examination of an aircraft or other metal or composite object. The apparatus for a nondestructive examination includes a linear array of ultrasound transducer, a wedge used to provide an interface between the linear array and the object being examined wherein the angle of the wedge is determined by use of Snell's law wherein the signals from the linear array are manipulated by a micro computer which then presents a visual display of the object being examined and any flaws found in the object.
(FR)L'invention porte sur un appareil et sur un procédé d'examen non destructif d'un aéronef ou autre objet métallique ou composite. L'appareil permettant l'examen non destructif comprend un réseau linaire de transducteurs à ultrason, un coin utilisé pour créer une interface entre le réseau linéaire et l'objet en cours d'examen, l'angle du coin étant déterminé par l'utilisation de la loi de Snell. Les signaux provenant du réseau linéaire sont traités par un micro-ordinateur qui présente ensuite un affichage visuel de l'objet en cours d'examen et de toutes anomalies trouvées dans l'objet.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)