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1. (WO2005045360) PROCEDE POUR ETALONNER UNE MACHINE DE MESURE D'EPAISSEUR DE COUCHE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2005/045360 N° de la demande internationale : PCT/EP2004/052462
Date de publication : 19.05.2005 Date de dépôt international : 07.10.2004
CIB :
G01B 7/06 (2006.01)
Déposants : JUNGK, Andreas[DE/DE]; DE (UsOnly)
CONTINENTAL AKTIENGESELLSCHAFT[DE/DE]; Vahrenwalder Strasse 9 30165 Hannover, DE (AllExceptUS)
Inventeurs : JUNGK, Andreas; DE
Données relatives à la priorité :
103 52 043.007.11.2003DE
Titre (EN) METHOD FOR CALIBRATING A LAYER THICKNESS MEASURING MACHINE
(FR) PROCEDE POUR ETALONNER UNE MACHINE DE MESURE D'EPAISSEUR DE COUCHE
(DE) VERFAHREN ZUR KALIBRIERUNG EINER SCHICHTDICKEN-MESSMASCHINE
Abrégé : front page image
(EN) The invention relates to a method for calibrating a layer thickness measuring machine for products (10), comprising electrically conducting inserts (2) that are arranged in a substantially periodical manner and that are coated with or embedded in an electrically non-conducting material. An eddy current sensor (1) is displaced relative to the product (10) at a predetermined distance thereto. The layer thickness (SD) is determined from the difference of the distance of the eddy current sensor (1) to the product (10) and the measured distance to the inserts (2). The aim of the invention is to provide a simplified method for calibrating a layer thickness measuring machine of the aforementioned type. According to the invention, the distances (A) of the inserts (2) relative one another are determined by means of the eddy current sensor (1) and the layer thickness value (SD) is calibrated with an associated calibration value (K) in accordance with the distances (A) of the inserts (2).
(FR) L'invention concerne un procédé pour étalonner une machine servant à mesurer l'épaisseur de couche de produits (10) au moyen d'inserts (2) électroconducteurs, placés de manière sensiblement périodique, revêtus d'un matériau électro-isolant ou incorporés dans un tel matériau. Selon ce procédé, un détecteur de courant de Foucault (1) est déplacé par rapport au produit (10) à une distance prédéterminée de ce dernier et l'épaisseur de couche (SD) est déterminée à partir de la différence entre la distance du détecteur de courant de Foucault (1) par rapport au produit (10) et la distance mesurée par rapport aux inserts (2). L'objectif de l'invention est de mettre à disposition un procédé permettant d'étalonner facilement une machine de mesure d'épaisseur de couche. A cet effet, les distances (A) entre les inserts (2) sont déterminées par l'intermédiaire du détecteur de courant de Foucault (1) et l'épaisseur de couche (SD) est étalonnée en fonction des distances (A) entre les inserts (2) au moyen d'une valeur d'étalonnage associée (K).
(DE) Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Kalibrierung einer Schichtdicken-Messmaschine für Produkte (10) mit im wesentlich periodisch angeordneten, elektrisch leitenden Einlagen (2), die mit einem elektrisch nicht leitenden Material beschichtet oder in ein solches Material eingebettet sind, bei dem ein Wirbelstromsensor (1) relativ zu dem Produkt (10) in einer festgelegten Entfernung bewegt wird und aus der Differenz der Entfernung des Wirbelstromsensors (1) zu dem Produkt (10) und der gemessenen Entfernung zu den Einlagen (2) die Schichtdicke (SD) bestimmt wird. Aufgabe der Erfindung ist es, ein Verfahren für eine vereinfachte Kalibrierung einer Schichtdicken-Messmaschine bereitzustellen. Diese Aufgabe wird dadurch gelöst, dass über den Wirbelstromsensor (1) die Abstände (A) der Einlagen (2) zueinander bestimmt werden und der Schichtdickenwert (SD) in Abhängigkeit von den Abständen (A) der Einlagen (2) mit einem zugeordneten Kalibrierwert (K) kalibriert wird.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)