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1. (WO2005041259) ARCHITECTURE D'ESSAI AU NIVEAU DU SYSTEME DE DISTRIBUTION DE DONNEES D'ESSAI COMPRIMEES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2005/041259 N° de la demande internationale : PCT/US2004/031055
Date de publication : 06.05.2005 Date de dépôt international : 22.09.2004
CIB :
G06F 11/00 (2006.01) ,G01R 31/28 (2006.01)
Déposants : NEC LABORATORIES AMERICA, INC.[US/US]; 4 Independence Way Princeton, NJ 08540, US (AllExceptUS)
Inventeurs : RAVI, Srivaths; US
RAGHUNATHAN, Anand; US
LINGAPPAN, Loganathan; US
CHAKRADHAR, Srimat, T.; US
JHA, Niraj, K.; US
Mandataire : LEE, Benjamin; NEC Laboratories America, Inc. 4 Independence Way Princeton, NJ 08540, US
Données relatives à la priorité :
10/795,23109.03.2004US
60/511,67217.10.2003US
Titre (EN) A SYSTEM-LEVEL TEST ARCHITECTURE FOR DELIVERY OF COMPRESSED TESTS
(FR) ARCHITECTURE D'ESSAI AU NIVEAU DU SYSTEME DE DISTRIBUTION DE DONNEES D'ESSAI COMPRIMEES
Abrégé :
(EN) An integrated circuit comprising at least one system level decompressor and at least a first hardware block associated with a core level decompressor. The system level decompressor is capable of performing system level decompression of received compressed test data to form partially decompressed test data. The core level decompressor being capable of performing core level decompression of the partially decompressed test data.
(FR) L'invention concerne un circuit intégré comprenant au moins un décompresseur au niveau du système et au moins un premier bloc de matériel associé à un décompresseur au niveau du noyau. Le décompresseur au niveau du système peut exécuter une décompression au niveau du système de données d'essai comprimées reçues afin d'obtenir des données d'essai partiellement décomprimées. Le décompresseur au niveau du noyau peut exécuter une décompression au niveau du noyau des données d'essai partiellement décomprimées.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)