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1. (WO2005040854) PROCEDE ET APPAREIL POUR INVERSER LA DEGRADATION DES PERFORMANCES DANS DES DETECTEURS A SEMI-CONDUCTEURS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2005/040854    N° de la demande internationale :    PCT/IB2004/052001
Date de publication : 06.05.2005 Date de dépôt international : 06.10.2004
CIB :
G01T 1/24 (2006.01)
Déposants : KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS, N.V. [NL/NL]; Groenewoudseweg 1, NL-5621 BA Eindhoven (NL) (Tous Sauf US).
GAGNON, Daniel [CA/US]; (US) (US Seulement).
GRIESMER, Jerome, J. [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : GAGNON, Daniel; (US).
GRIESMER, Jerome, J.; (US)
Représentant
commun :
KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS, N.V.; c/o SERRA, Wayne, M., 595 Miner Road, Cleveland, OH 44143 (US)
Données relatives à la priorité :
60/513,397 22.10.2003 US
Titre (EN) METHOD AND APPARATUS FOR REVERSING PERFORMANCE DEGRADATION IN SEMI-CONDUCTOR DETECTORS
(FR) PROCEDE ET APPAREIL POUR INVERSER LA DEGRADATION DES PERFORMANCES DANS DES DETECTEURS A SEMI-CONDUCTEURS
Abrégé : front page image
(EN)A system reverses degraded energy resolution of semiconductor radiation detection elements (44) which are used in a radiation detector assembly. A means (38) identifies semiconductor elements which exhibit degraded energy resolution as compared to an initial level of energy resolution after application of the forward bias. A means (40) restores the degraded semiconductor elements to the initial level of energy resolution by applying the reverse bias. A heater (74) accelerates the restoration process by supplying an elevated ambient temperature. A screening means (48) screens new semiconductor elements to identify the elements which are susceptible to degradation. A forward bias is applied by a forward bias means (50) to induce the degradation. A heater (52) increases an ambient temperature to accelerate the performance degradation in the new semiconductor. elements. The identified degradable elements are treated with a reverse bias prior to installation in the detector.
(FR)L'invention concerne un système permettant d'inverser la dégradation de la résolution énergétique d'éléments détecteurs de rayonnement à semi-conducteurs (44) utilisés dans un ensemble détecteur de rayonnement. Un moyen (38) identifie les éléments à semi-conducteurs présentant une résolution énergétique dégradée par rapport à un niveau initial de résolution énergétique après application de la polarisation directe. Un moyen (40) remet les éléments à semi-conducteurs dégradés au niveau initial de résolution énergétique en appliquant la polarisation inverse. Un générateur de chaleur (74) accélère ce processus de remise à l'état initial en procurant une température ambiante élevée. Un moyen de contrôle (48) contrôle les éléments à semi-conducteurs neufs afin d'identifier les éléments susceptibles de se dégrader. Une polarisation directe leur est appliquée par un moyen de polarisation directe (50) en vue de provoquer leur dégradation. Un générateur de chaleur (52) permet d'augmenter la température ambiante afin d'accélérer la dégradation des performances dans les éléments à semi-conducteurs neufs. Les éléments susceptibles de se dégrader identifiés sont traités avec une polarité inverse avant d'être montés dans le détecteur.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)