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1. (WO2005040840) PROCEDE ET DISPOSITIF POUR ESTIMER LA DUREE DE VIE RESTANTE D'UNE BOBINE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2005/040840    N° de la demande internationale :    PCT/JP2004/016061
Date de publication : 06.05.2005 Date de dépôt international : 22.10.2004
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    27.04.2005    
CIB :
G01R 31/34 (2006.01)
Déposants : KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA [JP/JP]; 1-1, Shibaura 1-Chome, Minato-Ku Tokyo 1058001 (JP) (Tous Sauf US).
TOSHIBA PLANT SYSTEMS & SERVICES CORPORATION (Tous Sauf US).
INOUE, Yoshiyuki; (US Seulement).
SEKITO, Shinobu; (US Seulement).
SHIMADA, Hideyuki; (US Seulement).
HASEGAWA, Hiroshi; (US Seulement).
KOYAMA, Mitsuhiko; (US Seulement).
KANEIWA, Hiroshi; (US Seulement).
OONO, Shinji; (US Seulement).
TONOSAKI, Nobuyuki; (US Seulement)
Inventeurs : INOUE, Yoshiyuki; .
SEKITO, Shinobu; .
SHIMADA, Hideyuki; .
HASEGAWA, Hiroshi; .
KOYAMA, Mitsuhiko; .
KANEIWA, Hiroshi; .
OONO, Shinji; .
TONOSAKI, Nobuyuki;
Mandataire : HATANO, Hisashi; Tokyo International Patent Firm 2nd Floor, Miyata Building 17-16, Nishi-Shimbashi 1-Chome Minato-Ku, Tokyo 1050003 (JP)
Données relatives à la priorité :
2003-365317 24.10.2003 JP
2003-423594 19.12.2003 JP
Titre (EN) METHOD AND DEVICE FOR ESTIMATING REMAINING SERVICE LIFE OF COIL
(FR) PROCEDE ET DISPOSITIF POUR ESTIMER LA DUREE DE VIE RESTANTE D'UNE BOBINE
(JA) コイルの余寿命推定方法およびコイルの余寿命推定装置
Abrégé : front page image
(EN)A method for estimating a remaining service life of coil includes: a first step for checking whether a cooling water from a conductor leaks to an insulation layer, performing measurement required for estimation of the breakdown voltage of the coil if the conductor cooling water leaks to the insulation layer, and estimating the coil breakdown voltage in a non-destructive way; a second step for estimating the lowering curve of the coil breakdown voltage in future in non-destructive way from the future operation condition of the coil; and a third step for extrapolating the data obtained in the first step and the second step so as to obtain a time when the breakdown voltage is lowered to the voltage required for operation of the coil. By using this method, it is possible to estimate the breakdown voltage of the insulation layer in a non-destructive way without removing the coil having the inner electrode mounted in the insulation layer and estimate the remaining service life of the coil according to the estimated breakdown voltage.
(FR)La présente invention concerne un procédé pour estimer la durée de vie restante d'une bobine. Ce procédé consiste, dans une première étape, à vérifier si de l'eau de refroidissement provenant d'un conducteur fuit vers une couche d'isolation, à effectuer une mesure nécessaire pour estimer la tension de claquage de la bobine si l'eau de refroidissement du conducteur fuit vers la couche d'isolation, puis à estimer la tension de claquage de la bobine de manière non destructive, dans une deuxième étape à estimer la future courbe descendante de la tension de claquage de la bobine de manière non destructive, à partir de l'état de fonctionnement futur de la bobine, puis, dans une troisième étape, à extrapoler les données obtenues dans la première et la deuxième étapes, afin d'obtenir un moment où la tension de claquage descend jusqu'à la tension nécessaire au fonctionnement de la bobine. Ce procédé permet d'estimer la tension de claquage de la couche d'isolation de manière non destructive, sans enlever la bobine dont l'électrode interne est montée dans la couche d'isolation, et d'estimer la durée de vie restante de la bobine en fonction de cette tension de claquage estimée.
(JA) 本発明に係るコイルの余寿命推定方法は、導体からの冷却水が絶縁層に漏水しているかどうかを確認し、前記導体冷却水が絶縁層に漏水している場合、コイルの絶縁破壊電圧の推定に必要な測定を行い、コイルの絶縁破壊電圧を非破壊的に推定する第1工程と、前記コイルの今後の運転条件から、コイルの絶縁破壊電圧の今後の低下カーブを非破壊的に推定する第2工程と、第1工程および第2工程から求めたデータを外挿し、絶縁破壊電圧が前記コイルの運転に必要な電圧まで低下する時期を求める第3工程とを備える。上記方法によれば、絶縁層中に内部電極を装着したコイルにおいて、コイルを取り外すことなく、非破壊的に絶縁層の絶縁破壊電圧を推定し、推定した絶縁破壊電圧に基づいて余寿命を推定するコイルの余寿命推定方法を提供することができる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)