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1. (WO2005016587) PROCEDE DE DETERMINATION DE LA POSITION DE LA SURFACE D'UNE PIECE A L'INTERIEUR D'UNE MACHINE D'USINAGE LASER
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2005/016587    N° de la demande internationale :    PCT/EP2004/050535
Date de publication : 24.02.2005 Date de dépôt international : 16.04.2004
CIB :
B23K 26/04 (2006.01), H05K 1/02 (2006.01), H05K 3/00 (2006.01)
Déposants : HITACHI VIA MECHANICS, LTD. [JP/JP]; 2100, Kamiimaizumi, Ebina-shi, Kanagawa 243-0488 (JP) (Tous Sauf US).
METKA, Uwe [DE/DE]; (DE) (US Seulement)
Inventeurs : METKA, Uwe; (DE)
Mandataire : BEETZ & PARTNER; Steinsdorfstrasse 10, 80538 München (DE)
Données relatives à la priorité :
103 36 861.2 11.08.2003 DE
Titre (DE) VERFAHREN ZUR BESTIMMUNG DER OBERFLÄCHENPOSITION EINES WERKSTÜCKES INNERHALB EINER LASERBEARBEITUNGSMASCHINE
(EN) METHOD FOR DETERMINING THE POSITION OF THE SURFACE OF A WORKPIECE INSIDE A LASER MACHINING UNIT
(FR) PROCEDE DE DETERMINATION DE LA POSITION DE LA SURFACE D'UNE PIECE A L'INTERIEUR D'UNE MACHINE D'USINAGE LASER
Abrégé : front page image
(DE)Bei dem Verfahren zur Bestimmung der OberflächenHöhenposition eines Werkstücks (6) innerhalb einer Laserbearbeitungsmaschine, bei der ein Laserstrahl (2) über eine Fokussieroptik (4) auf das auf einem Träger (5) angeordnete Werkstück (6) gerichtet wird, wird zumindest eine auf der 0berfläche des Trägers angeordnete Marke (9) mittels einer Kamera in mehreren vorgegebenen Höhenpositionen (z-3 bis z3) des Trägers vermessen. Eine durch die Marke vorgegebene Messdistanz (B) ergibt bei den unterschiedlichen Höhenpositionen unterschiedliche Messwerte, aus denen eine Eichkurve abgeleitet wird. Eine auf dem Werkstück (6) vorgesehene Marke (9*) wird in gleicher Weise in einer bestimmten Höhenposition des Trägers (5) vermessen. Durch Vergleich des auf dem Werkstück gewonnenen Messwertes mit der Eichkurve ergibt sich die genaue Höhe des Werkstücks.
(EN)The invention relates to a method for determining the height of the surface of a workpiece (6) inside a laser machining unit, in which a laser beam (2) is directed by a focusing lens (4) onto the workpiece (6) that is located on a support (5). According to said method, at least one mark (9) that is placed on the surface of the support is measured by means of a camera, when the support is at several predetermined heights (z-3 to z3). A measuring distance (B) that is predetermined by the mark produces different measured values at the different heights, said values enabling a calibration curve to be derived. A mark (9*) that is provided on the workpiece (6) is measured in the same way, when the support (5) is at a specific height. The exact height of the workpiece is obtained by comparing the measured value from the workpiece with the calibration curve.
(FR)L'invention concerne un procédé de détermination de la position en hauteur de la surface d'une pièce (6) à l'intérieur d'une machine d'usinage laser, dans laquelle un faisceau laser (2) est dirigé sur la pièce (6), qui est placée sur un support (5), par l'intermédiaire d'un système optique de focalisation (4). Selon ledit procédé, au moins un repère (9), qui est placé sur la surface du support, est soumis, au moyen d'une caméra, à des mesures pour lesquelles le support est placé à plusieurs hauteurs (z--3 à z3) préallouées. Une distance de mesure (B) prédéterminée par le repère se traduit par des valeurs de mesure différentes pour les différentes hauteurs, valeurs de mesure à partir desquelles est dérivée une courbe d'étalonnage. Un repère (9*) placé sur la pièce (6) est soumis, de la même façon, à une mesure quand le support (5) se trouve à une hauteur prédéterminée. Par comparaison, avec la courbe d'étalonnage, de la valeur de la mesure effectuée sur la pièce, on obtient la hauteur exacte de la pièce.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)