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1. (WO2005015403) SYSTEME DE CONTROLE DE PROCESSUS EN BOUCLE FERMEE EN TEMPS REEL POUR PREVENTION DES DEFAUTS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2005/015403    N° de la demande internationale :    PCT/US2004/025553
Date de publication : 17.02.2005 Date de dépôt international : 06.08.2004
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    06.06.2005    
CIB :
G05B 19/418 (2006.01), G05B 23/02 (2006.01)
Déposants : SIEMENS LOGISTICS AND ASSEMBLY SYSTEMS INC. [US/US]; 507 Plymouth Ave. NE, Grand Rapids, MI 49505 (US)
Inventeurs : NGUYEN, Tuan Minh; (DE)
Mandataire : NUZZI, Frank J.; Siemens Corporation, Intellectual Property Dept., 170 Wood Avenue South, Iselin, NJ 08830 (US).
MORGAN, Marc; Siemens Shared Services Limited, Siemens AG, P.O. Box 22 16 34, 80506 Munich (DE)
Données relatives à la priorité :
60/493,062 06.08.2003 US
10/899,406 26.07.2004 US
Titre (EN) REAL TIME CLOSED-LOOP PROCESS CONTROL SYSTEM FOR DEFECT PREVENTION
(FR) SYSTEME DE CONTROLE DE PROCESSUS EN BOUCLE FERMEE EN TEMPS REEL POUR PREVENTION DES DEFAUTS
Abrégé : front page image
(EN)A method is provided for executing a monitoring process during a manufacturing process to produce products. The method measures, in real time, performance variables of an upstream portion of a present manufacturing process, analyzes, with a processor, trends in the performance variables of the present manufacturing process together with data that models a portion of a subsequent manufacturing process, that occurs after the present manufacture process, to predict performance of the subsequent manufacturing process, sends trend analysis information to the present manufacturing process, and sends information to the subsequent manufacturing process.
(FR)L'invention concerne un procédé destiné à exécuter une opération de surveillance pendant un processus de fabrication pour la production de produits. Ce procédé consiste à mesurer, en temps réel, des variables de performance d'une partie amont d'un processus de fabrication en cours, à analyser, au moyen d'un processeur, les tendances des variables de performance du processus de fabrication en cours conjointement avec des données modélisant une partie d'un processus de fabrication subséquent intervenant après le processus de fabrication en cours, ce qui permet de prédire la performance du processus de fabrication subséquent, à envoyer des informations d'analyse de tendances destinées au processus de fabrication en cours, et à envoyer des informations destinées au processus de fabrication subséquent.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)