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1. (WO2005012933) DISPOSITIF ET PROCEDE POUR TESTER DES CIRCUITS INTEGRES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2005/012933    N° de la demande internationale :    PCT/DE2004/001487
Date de publication : 10.02.2005 Date de dépôt international : 08.07.2004
CIB :
G01R 31/28 (2006.01), G01R 35/00 (2006.01)
Déposants : INFINEON TECHNOLOGIES AG [DE/DE]; St.-Martin-Str. 53, 81669 München (DE) (Tous Sauf US).
MATTES, Heinz [DE/DE]; (DE) (US Seulement).
SATTLER, Sebastian [DE/DE]; (DE) (US Seulement)
Inventeurs : MATTES, Heinz; (DE).
SATTLER, Sebastian; (DE)
Mandataire : SCHWEIGER, Martin; c/o Kanzlei Schweiger & Partner, Karl-Theodor-Str. 69, 80803 München (DE)
Données relatives à la priorité :
103 35 164.7 30.07.2003 DE
Titre (DE) VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUM TESTEN VON INTEGRIERTEN SCHALTKREISEN
(EN) DEVICE AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUITS
(FR) DISPOSITIF ET PROCEDE POUR TESTER DES CIRCUITS INTEGRES
Abrégé : front page image
(DE)Die erfindungsgemäße Testvorrichtung umfasst einen Präzisionssignalgenerator (201) zum Generieren eines Testsignals, der über eine Anschlussleitung (409) mit einem zum Anschluss an einen Eingang eines integrierten Schaltkreis bestimmten Eingangskontakt (211; 221; 231) verbunden ist, und wenigstens einen Referenzsignalgenerator (401, 411) zum Erzeugen eines Referenzsignals. Ferner ist für jeden Eingangskontakt (211, 221, 231) wenigstens eine Vergleichereinheit (501, 511, 521) vorgesehen, die einem Testmodus aufweist. Im Testmodus wird das Testsignal mit dem Referenzsignal verglichen. Der Präzisionssignalgenerator (201) wird durch die Vergleichereinheit (501, 511, 521) abgeschaltet, wenn das Testsignal das Referenzsignal übersteigt oder unterschreitet.
(EN)The invention relates to a test device comprising a precision signal generator (201) which is used to generate a test signal and is connected, by means of a connection line (409), to an input contact (211; 221; 231) used for connection to the input of an integrated circuit, in addition to at least one reference signal generator (401, 411) for producing a reference signal. Furthermore, at least one comparator unit (501, 511, 521) is provided for each input contact (211, 221, 231), said comparator having a test mode in which the test signal is compared with the reference signal. The precision signal generator (201) is switched off by the comparator unit (501, 511, 521) when the test signal exceeds or falls short of the reference signal.
(FR)L'invention concerne un dispositif de test comprenant un générateur de signal de précision (201) servant à générer un signal de test, raccordé par l'intermédiaire d'une ligne de raccordement (409) à un contact d'entrée (211; 221; 231) destiné à être raccordé à une entrée d'un circuit intégré, et au moins un générateur de signal de référence (401, 411) servant à générer un signal de référence. En outre, au moins une unité comparateur (501, 511, 521) présentant un mode de test est prévue pour chaque contact d'entrée (211, 221, 231). En mode de test, le signal de test est comparé au signal de référence. Le générateur de signal de précision (201) est mis hors circuit par l'unité comparateur (501, 511, 521) lorsque le signal de test est supérieur ou inférieur au signal de référence.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)