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1. (WO2005012916) DISPOSITIF D'ANALYSE D'ECHANTILLON ET SUPPORT D'ANALYSE D'ECHANTILLON EN FORME DE DISQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2005/012916    N° de la demande internationale :    PCT/JP2004/011090
Date de publication : 10.02.2005 Date de dépôt international : 03.08.2004
CIB :
G01N 35/00 (2006.01)
Déposants : TAIYO YUDEN CO., LTD. [JP/JP]; 16-20, Ueno 6-chome Taito-ku, Tokyo 1100005 (JP) (Tous Sauf US).
HAGIWARA, Naoto [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : HAGIWARA, Naoto; (JP)
Mandataire : MATSUI, Shigeru; 2nd Floor, Ginza Todoroki Bldg. 16-5 Ginza 8-chome Chuo-ku, Tokyo 1040061 (JP)
Données relatives à la priorité :
2003-286825 05.08.2003 JP
Titre (EN) SAMPLE ANALYZER AND DISK-LIKE SAMPLE ANALYZING MEDIUM
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE D'ECHANTILLON ET SUPPORT D'ANALYSE D'ECHANTILLON EN FORME DE DISQUE
(JA) 試料分析装置及びディスク状試料分析媒体
Abrégé : front page image
(EN)A sample analyzer capable of efficiently heating only a specified portion on the surface of a disk by a simple external heating means and a disk-like sample analyzing medium. An analyzing area (3) and an optical recording area (7) are formed on a disk-like substrate (1), and a light absorbing layer (12) and light reflecting layers (11) are disposed in the analyzing area (3) to form a high temperature zone (4) and low temperature zones (5). In the high temperature zone (4), heating occurs since radiated electromagnetic wave hits the light absorbing layer (12), and in the low temperature zone (5), a temperature rise is suppressed since the electromagnetic wave is reflected on the light reflecting layers (11) and heat conduction is increased. Accordingly, a thermal cycle can be provided to a sample liquid by feeding the specimen liquid to a flow passage (6) formed so as to alternately meander between the high temperature zone (4) and the low temperature zone (5) so that various reactions can be performed.
(FR)La présente invention concerne un dispositif d'analyse d'échantillon permettant un chauffage efficace uniquement d'une partie de la surface d'un disque, grâce à un système de chauffage externe simple, ainsi qu'un support d'analyse d'échantillon en forme de disque. Une zone d'analyse (3) et une zone d'enregistrement optique (7) sont formées sur un substrat en forme de disque (1), et une couche d'absorption de la lumière (12) et des couches de réflexion de la lumière (11) sont formées dans la zone d'analyse (3) pour constituer une zone haute température (4) et des zones basse température (5). La zone haute température (4) subit un effet de chauffage puisque les ondes électromagnétiques émises rencontrent la couche d'absorption de la lumière (12), et la zone basse température (5) n'est pas sujette à une augmentation de température puisque les ondes électromagnétiques sont réfléchies sur les couches de réflexion de la lumière (11), et la conduction thermique se trouve augmentée. En conséquence, un cycle thermique peut être imposé à un échantillon de liquide que l'on fait passer par un passage d'écoulement (6) formé pour serpenter de façon alternée entre la zone haute température (4) et les zones basse température (5), de sorte que différentes réactions peuvent être mises en oeuvre.
(JA) 簡便な外部加熱手段によってディスク上の特定の部位だけを効率よく加熱することができる試料分析装置及びディスク状試料分析媒体を提供する。  ディスク状基板1上に分析領域3と光記録領域7を形成し、前記分析領域3に光吸収層12と光反射層11を配置することにより、高温領域4と低温領域5を形成する。前記高温領域4では、照射された電磁波が前記光吸収層12に当るため発熱し、低温領域5では、電磁波が前記光反射層11反射されると共に高い熱伝導によって温度の上昇が抑制される。したがって、前記高温領域4と前記低温領域5とを交互に蛇行するように形成された流路6内に試料液を送液することにより、該試料液に熱サイクルを与え、種々の反応を行うことができるようになっている。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)