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1. (WO2005012882) PROCEDE ET DISPOSITIF DE DETERMINATION D'UN COEFFICIENT D'APLATISSEMENT D'UN MATERIAU
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2005/012882    N° de la demande internationale :    PCT/FR2004/002056
Date de publication : 10.02.2005 Date de dépôt international : 30.07.2004
CIB :
G01N 15/02 (2006.01), G01N 15/14 (2006.01)
Déposants : LABORATOIRE CENTRAL DES PONTS ET CHAUSSEES [FR/FR]; 58 Boulevard Lefebvre, F-75015 PARIS (FR) (Tous Sauf US).
BOUQUETY, Marie-Noëlle [FR/FR]; (FR) (US Seulement).
DESCANTES, Yannick [FR/FR]; (FR) (US Seulement).
DE LARRARD, François [FR/FR]; (FR) (US Seulement)
Inventeurs : BOUQUETY, Marie-Noëlle; (FR).
DESCANTES, Yannick; (FR).
DE LARRARD, François; (FR)
Mandataire : DRONNE, Guy; Cabinet Beau de Lomenie, 158 Rue de l'Université, F-75340 PARIS Cedex 07 (FR)
Données relatives à la priorité :
03 09555 01.08.2003 FR
Titre (EN) METHOD AND DEVICE FOR DETERMINING A MATERIAL FLATTENING COEFFICIENT
(FR) PROCEDE ET DISPOSITIF DE DETERMINATION D'UN COEFFICIENT D'APLATISSEMENT D'UN MATERIAU
Abrégé : front page image
(EN)The invention concerns a method and device for determining a flattening coefficient (A%) of a granular material. The method comprises the following steps: a) providing a granular material consisting of at least one particle (12), b) projecting a shadow (28) of said particle (12), c) approaching said shadow (28) with an ellipse (32), d) determining data of said ellipse (32), e) determining a length and a size of said particle from said data of the ellipse (32), f) determining an elongation factor of one particle (12), g) plotting a distribution curve of the elongation factors, h) constructing a distribution curve of flattening factors by transforming said distribution curve of elongation factors in a common benchmark, by performing an affinity in said benchmark, and i) determining a flattening coefficient (A%) on said distribution curve of flattening factors.
(FR)L'invention concerne un procédé et un dispositif de détermination d'un coefficient d'aplatissement (A%) d'un matériau divisé. Le procédé comporte les étapes suivantes : a) on amène un matériau divisé composé d'au moins une particule (12),b) on projette une ombre (28) de ladite particule (12), c) on approche ladite ombre (28) par une ellipse (32), d) on détermine des données de ladite ellipse (32), e) on détermine une longueur et une grosseur de ladite particule à partir desdites données de l'ellipse (32), f) on détermine un facteur d'allongement d'une particule (12), g) on trace une courbe de distribution des facteurs d'allongement, h) on construit une courbe de distribution des facteurs d'aplatissement en transformant ladite courbe de distribution des facteurs d'allongement dans un même repère, en effectuant une affinité dans ledit repère, et i) on détermine un coefficient d'aplatissement (A%) sur ladite courbe de distribution des facteurs d'aplatissement.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : français (FR)
Langue de dépôt : français (FR)