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1. (WO2005012857) APPAREIL DE CARACTERISATION SIMULTANEE OU CONSECUTIVE DE PLUSIEURS ECHANTILLONS DE MATERIAUX SOLIDES AU MOYEN DE LA PHOTOLUMINESCENCE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2005/012857    N° de la demande internationale :    PCT/ES2004/070061
Date de publication : 10.02.2005 Date de dépôt international : 27.07.2004
CIB :
G01N 21/25 (2006.01), G01N 21/64 (2006.01)
Déposants : CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTÍFICAS [ES/ES]; C/ SERRANO, 117, E-28006 MADRID (ES) (Tous Sauf US).
UNIVERSIDAD POLITÉCNICA DE VALENCIA [ES/ES]; Camino de Vera s/n, E-46022 VALENCIA (ES) (Tous Sauf US).
CORMA CANÓS, Avelino, [ES/ES]; (ES) (US Seulement).
GARCÍA GÓMEZ, Hermenegildo, [ES/ES]; (ES) (US Seulement).
SERRA ALFARO, José, Manuel [ES/ES]; (ES) (US Seulement)
Inventeurs : CORMA CANÓS, Avelino,; (ES).
GARCÍA GÓMEZ, Hermenegildo,; (ES).
SERRA ALFARO, José, Manuel; (ES)
Données relatives à la priorité :
P 200301935 01.08.2003 ES
Titre (EN) APPARATUS FOR SIMULTANEOUS OR CONSECUTIVE CHARACTERIZATION OF MULTIPLE SOLID MATERIAL SAMPLES BY PHOTOLUMINESCENCE
(ES) UN APARATO PARA LA CARACTERIZACIÓN SIMULTANEA O CONSECUTIVA DE MÚLTIPLES MUESTRAS DE MATERIALES SÓLIDOS MEDIANTE FOTOLUMINISCENCIA
(FR) APPAREIL DE CARACTERISATION SIMULTANEE OU CONSECUTIVE DE PLUSIEURS ECHANTILLONS DE MATERIAUX SOLIDES AU MOYEN DE LA PHOTOLUMINESCENCE
Abrégé : front page image
(EN)The invention relates to an apparatus for characterization using photoluminescence techniques of multiple solid material samples, comprising at least irradiation means (6,7,8,14) for applying at least one controlled radiation to the samples (1), at least one support (2,3,4,15) housing a plurality of samples (1) and detection and registering means (9,10,11,16) of the photoluminescence radiation produced by the samples (1) arranged on the support (2,3,4,15) as a result of the preceding irradiation. The apparatus enables multiple characterization of large libraries of solid materials by means of photoluminescence measures, particularly fluorescence, which do not alter the properties of the solids, of which only small amounts are required, thereby making it possible to increase the number of new materials that can be characterized within a given time.
(ES)Un aparato para la caracterización por técnicas de fotoluminiscencia de múltiples muestras de materiales sólidos, que comprende al menos medios de irradiación (6,7,8,14) para aplicar al menos una radiación controlada a las muestras (1), al menos un soporte (2,3,4,15) que alberga una pluralidad de muestras (1), y medios de detección y registro (9,10,11,16) de la radiación de fotoluminiscencia producida por las muestras (1) dispuestas en et soporte (2,3,4,15) como efecto de su previa irradiación. El aparato permite la caracterización multiple de grandes librerías de materiales sólidos mediante medidas de fotoluminiscencia, especialmente de fluorescencia, que no alteran en absoluto las propiedades del sólido del cual son necesarias cantidades reducidas, lo que permite aumentar et número de nuevos materiales que es posible caracterizar en un tiempo determinado.
(FR)L'invention concerne un appareil de caractérisation destiné à des techniques de photoluminescence de multiples échantillons de matériaux solides, qui comprend au moins des moyens d'irradiation (6, 7, 8, 14) en vue d'appliquer au moins une irradiation contrôlée aux échantillons (1), au moins un support (2, 3, 4, 15) qui héberge plusieurs échantillons (1) et des moyens de détection et d'enregistrement (9, 10, 11, 16) du rayonnement de photoluminescence produit par des échantillons (1) disposés sur le support (2, 3, 4, 15) comme effet de son irradiation préalable. L'appareil permet la caractérisation multiple de grandes bibliothèques de matériaux solides au moyen de mesures de photoluminescence, notamment de fluorescence, qui n'altèrent nullement les propriétés du solide dont des quantités réduites sont nécessaires, ce qui permet d'augmenter le nombre de nouveaux matériaux pouvant être caractérisé en un temps déterminé.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : espagnol (ES)
Langue de dépôt : espagnol (ES)