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1. (WO2005010932) CONFIGURATION DE RESEAU DE MASQUAGE POUR CIRCUITS INTEGRES DE BALAYAGE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2005/010932    N° de la demande internationale :    PCT/US2004/017432
Date de publication : 03.02.2005 Date de dépôt international : 30.06.2004
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    07.02.2005    
CIB :
G01R 31/28 (2006.01), G01R 31/3177 (2006.01), G01R 31/3181 (2006.01), G01R 31/3185 (2006.01)
Déposants : SYNTEST TECHNOLOGIES, INC. [US/US]; 505 S. Pastoria Avenue, Suite 101, Sunnyvale, CA 94086 (US) (Tous Sauf US)
Inventeurs : WANG, Laung-Terng (L.-T.); (US).
ABDEL-HAFEZ, Khader, S.; (US).
WEN, Xiaoqing; (US).
SHEU, Boryau (Jack); (US).
WANG, Shun-Miin (Sam); (US)
Mandataire : ZEGEER, Jim; 801 N. Pitt Street, #108, Alexandria, VA 22314 (US)
Données relatives à la priorité :
60/484,639 07.07.2003 US
10/876,784 28.06.2004 US
Titre (EN) MASK NETWORK DESIGN FOR SCAN-BASED INTEGRATED CIRCUITS
(FR) CONFIGURATION DE RESEAU DE MASQUAGE POUR CIRCUITS INTEGRES DE BALAYAGE
Abrégé : front page image
(EN)A method and apparatus for selectively masking off unknown ('x') captured scan data in first selected scan cells (220) from propagating through the scan chains (221) for test, debug, diagnosis, and yield improvement of a scan-based integrated circuit (207) in a selected scan-test mode (232) or selected self-test mode. The scan-based integrated circuit (207) contains a plurality of scan chains (221), a plurality of pattern generators (208, a plurality of pattern compactors (213), with each scan chain (221) comprising multiple scan cells (220), (222) coupled in series. The method and apparatus further includes an output-mask controller (211) and an output-mask network (212) embedded on the scan data input path of second selected scan cells (222), or a set/reset controller controlling selected set/reset inputs of second selected scan cells. A synthesis method is also proposed for synthesizing the output-mask controller (211) and the set/reset controller.
(FR)L'invention concerne un procédé et un appareil de masquage sélectif de données de balayage capturées inconnues ( x') dans des premières cellules de balayage sélectionnées (220), afin d'empêcher leur propagation dans les chaînes (221) de balayage d'essai, de mise au point, de diagnostic, et d'amélioration du rendement d'un circuit intégré (207) de balayage, dans un mode (232) d'essai de balayage sélectionné ou un mode d'essai automatique sélectionné. Le circuit intégré (207) de balayage contient une pluralité de chaînes (221) de balayage, une pluralité de générateurs (208) de motifs, une pluralité de compacteurs (213) de motifs, chaque chaîne (221) de balayage comprenant de multiples cellules (220, 222) de balayage couplées en série. Le procédé et l'appareil de l'invention comprennent également une unité (211) de commande de masquage de sortie, et un réseau (212) de masquage de sortie intégré sur la voie d'entrée des données de balayage de secondes cellules de balayage sélectionnées (222), ou une unité de commande de réglage/remise à zéro de commande des entrées de réglage/remise à zéro sélectionnées des secondes cellules de balayage sélectionnées. L'invention concerne également un procédé de synthèse de l'unité (211) de commande de masquage de sortie et de l'unité de commande de réglage/remise à zéro.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)