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Paramétrages

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1. WO2005008896 - CIRCUIT ELECTRIQUE ET PROCEDE POUR TESTER DES COMPOSANTS ELECTRONIQUES

Numéro de publication WO/2005/008896
Date de publication 27.01.2005
N° de la demande internationale PCT/DE2004/001148
Date du dépôt international 04.06.2004
CIB
G01R 31/3167 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
3167Tests de circuits analogiques et numériques combinés
CPC
G01R 31/3167
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
3167Testing of combined analog and digital circuits
H03K 2005/00241
HELECTRICITY
03BASIC ELECTRONIC CIRCUITRY
KPULSE TECHNIQUE
5Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
00013Delay, i.e. output pulse is delayed after input pulse and pulse length of output pulse is dependent on pulse length of input pulse
0015Layout of the delay element
00234using circuits having two logic levels
00241using shift registers
H03K 2005/00286
HELECTRICITY
03BASIC ELECTRONIC CIRCUITRY
KPULSE TECHNIQUE
5Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
00286Phase shifter, i.e. the delay between the output and input pulse is dependent on the frequency, and such that a phase difference is obtained independent of the frequency
H03M 1/1095
HELECTRICITY
03BASIC ELECTRONIC CIRCUITRY
MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
1Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
10Calibration or testing
1071Measuring or testing
1095for ac performance, i.e. dynamic testing
Déposants
  • INFINEON TECHNOLOGIES AG [DE/DE]; St.-Martin-Strasse 53 81669 München, DE (AllExceptUS)
  • DWORSKI, Claus [AT/AT]; AT (UsOnly)
  • SATTLER, Sebastian [DE/DE]; DE (UsOnly)
Inventeurs
  • DWORSKI, Claus; AT
  • SATTLER, Sebastian; DE
Mandataires
  • SCHÄFER, Horst; Kanzlei Schweiger & Partner Karl-Theodor-Strasse 69 80803 München, DE
Données relatives à la priorité
103 32 008.314.07.2003DE
Langue de publication allemand (DE)
Langue de dépôt allemand (DE)
États désignés
Titre
(DE) ELEKTRISCHE SCHALTUNG SOWIE VERFAHREN ZUM TESTEN VON ELEKTRONISCHEN BAUTEILEN
(EN) ELECTRICAL CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENTS
(FR) CIRCUIT ELECTRIQUE ET PROCEDE POUR TESTER DES COMPOSANTS ELECTRONIQUES
Abrégé
(DE)
Die elektrische Testschaltung (5) umfasst einen ersten Eingang (51) zum Empfang eines Testsignals eines integrierten Schaltkreises (4), einen zweiten Eingang (52) zum Empfang eines Kontrollsignals und einen dritten Eingang (53) zum Empfang eines normierten, insbesondere synchron zum Testsignal ausgebildeten Referenzsignals. Mit einer Regeleinrichtung (55) der elektrischen Testschaltung (5) können die Abweichung und/oder die Amplitude und/oder die Phase des Referenzsignals und/oder des Testsignals verändert werden. Durch eine Messeinrichtung (56) wird durch Subtraktion des Referenzsignals vom Testsignal ein Differenzsignal erzeugt, das über einen Ausgang (54) ausgegeben wird.
(EN)
Disclosed is an electrical test circuit (5) comprising a first input (51) for receiving a test signal of an integrated circuit (4), a second input (52) for receiving a control signal, and a third input (53) for receiving a normalized reference signal which is configured particularly in step with the test signal. The deviation and/or the amplitude and/or the phase of the reference signal and/or the test signal can be modified by means of a regulating device (55) of the electrical test circuit (5). A measuring device (56) generates a differential signal by subtracting the reference signal from the test signal, said differential signal being output via an output (54).
(FR)
La présente invention concerne un circuit électrique de test (5) comprenant une première entrée (51) conçue pour recevoir un signal de test d'un circuit intégré (4), une deuxième entrée (52) conçue pour recevoir un signal de contrôle, ainsi qu'une troisième entrée (53) conçue pour recevoir un signal de référence normalisé, qui est notamment synchrone au signal de test. Un système de régulation (55) du circuit électrique de test (5) permet de modifier la déviation et/ou l'amplitude et/ou la phase du signal de référence et/ou du signal de test. Un système de mesure (56) permet, par soustraction du signal de référence du signal de test, de produire un signal différentiel qui est fourni par l'intermédiaire d'une sortie (54).
Également publié en tant que
US2007063723
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