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1. WO2005008741 - SYSTEME ET PROCEDE D'INTEGRATION AUTOMATIQUE DE MISE A JOUR DE PRODUCTION EN COURS A SEMICONDUCTEUR

Numéro de publication WO/2005/008741
Date de publication 27.01.2005
N° de la demande internationale PCT/US2004/022857
Date du dépôt international 14.07.2004
CIB
G06F 19/00 2006.01
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
FTRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
19Équipement ou méthodes de traitement de données ou de calcul numérique, spécialement adaptés à des applications spécifiques
CPC
G01R 31/31707
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
31707Test strategies
G01R 31/318314
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3181Functional testing
3183Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
318314Tools, e.g. program interfaces, test suite, test bench, simulation hardware, test compiler, test program languages
G01R 31/318511
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3181Functional testing
3185Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
318505Test of Modular systems, e.g. Wafers, MCM's
318511Wafer Test
G06Q 10/06
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
QDATA PROCESSING SYSTEMS OR METHODS, SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL, SUPERVISORY OR FORECASTING PURPOSES; SYSTEMS OR METHODS SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL, SUPERVISORY OR FORECASTING PURPOSES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
10Administration; Management
06Resources, workflows, human or project management, e.g. organising, planning, scheduling or allocating time, human or machine resources; Enterprise planning; Organisational models
Déposants
  • ESILICON CORPORATION [US/US]; 3920 Freedom Circle Santa Clara, CA 95054, US (AllExceptUS)
  • ANNAMANENI, Sabhapathi, N. [IN/US]; US (UsOnly)
  • BHAVSAR, Sarangkumar, S. [IN/US]; US (UsOnly)
Inventeurs
  • ANNAMANENI, Sabhapathi, N.; US
  • BHAVSAR, Sarangkumar, S.; US
Mandataires
  • FARN, Michael, W. ; Fenwick & West LLP Silicon Valley Center 801 California Street Mountain View, CA 94041, US
Données relatives à la priorité
10/619,73814.07.2003US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) SYSTEM AND METHOD FOR AUTOMATING INTEGRATION OF SEMICONDUCTOR WORK IN PROCESS UPDATES
(FR) SYSTEME ET PROCEDE D'INTEGRATION AUTOMATIQUE DE MISE A JOUR DE PRODUCTION EN COURS A SEMICONDUCTEUR
Abrégé
(EN)
WIP status updates, as received from semiconductor manufacturing suppliers, is converted to transactions. In one approach, supply chain events, for example lot splits, lot merges, and lot scrap, are identified based on previous lot statuses and current lot statuses from the WIP status update. Identified events are interpreted as transactions, which can be used to WIP status updates, as received from interface with a transactional system such as an ERP system.
(FR)
L'invention concerne des mises à jour d'état de production en cours, telles que reçues par des fournisseurs de fabrication à semiconducteurs, converties en transaction. Dans l'une des approches de l'invention, les événements de chaîne d'alimentation, par exemple les divisions et fusions de lots, et les déchets de lots sont identifiés sur la base d'états de lot préalable et d'états de lot courant de la mise à jour de l'état de fabrication en cours. Les événements identifiés sont interprétés comme des transactions, pouvant être utilisées en vue de faire interface avec un système de transaction, notamment un système de planification de ressources d'entreprise ERP.
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