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Paramétrages

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1. WO2005008312 - AJUSTEMENT D'UN MICROSCOPE

Numéro de publication WO/2005/008312
Date de publication 27.01.2005
N° de la demande internationale PCT/EP2004/007362
Date du dépôt international 06.07.2004
CIB
G02B 21/18 2006.01
GPHYSIQUE
02OPTIQUE
BÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
21Microscopes
18Aménagements avec plus d'un parcours de lumière, p.ex. pour comparer deux échantillons
G02B 21/24 2006.01
GPHYSIQUE
02OPTIQUE
BÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
21Microscopes
24Structure du bâti ou statif
CPC
G02B 21/18
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21Microscopes
18Arrangements with more than one light path, e.g. for comparing two specimens
G02B 21/241
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21Microscopes
24Base structure
241Devices for focusing
Déposants
  • MAX-PLANCK-GESELLSCHAFT ZUR FÖRDERUNG DER WISSENSCHAFTEN E.V. [DE/DE]; Hofgartenstrasse 2 80539 München, DE (AllExceptUS)
  • ENGELHARDT, Johann [DE/DE]; DE (UsOnly)
Inventeurs
  • ENGELHARDT, Johann; DE
Mandataires
  • REHBERG+HÜPPE; Nikolausberger Weg 62 37073 Göttingen, DE
Données relatives à la priorité
103 31 501.211.07.2003DE
Langue de publication allemand (DE)
Langue de dépôt allemand (DE)
États désignés
Titre
(DE) JUSTIERUNG EINES MIKROSKOPS
(EN) MICROSCOPE ADJUSTMENT
(FR) AJUSTEMENT D'UN MICROSCOPE
Abrégé
(DE)
Zur Justierung eines Mikroskops (1), das mindestens zwei Objektive (2, 3) aufweist, um Messstrahlen (5, 6) in einem Objektraum (4) zu einem Interferenzmuster zu überlagern und um den Objektraum (4) zu beobachten, werden sich von den Messstrahlen (5, 6) unterscheidende Hilfsstrahlen (17, 18; 72, 73) in die Objektive (2, 3) gerichtet und die aus den Objektiven (2, 3) an der Einkoppelseite der Hilfsstrahlen (17, 18; 72, 73) wieder austretenden Hilfsstrahlen (18, 18; 72, 73) zu einem Interferenzmuster überlagert.
(EN)
According to the invention, various auxiliary rays (17, 18, 72, 73) are oriented from the measuring rays (5, 6) towards the lens (2, 3) in order to superimpose measuring rays (5, 6) in an object area (4) onto an interference pattern and to observe the object area (4) in order to adjust a microscope (1). Said microscope comprises at least two lenses (2, 3). The auxiliary rays (17, 18, 72, 73) emitted from the lenses (2, 3) are superimposed again on the injection side of the auxiliary rays (17, 18; 72, 73) in order to form an interference pattern.
(FR)
Pour ajuster un microscope (1) possédant au moins deux objectifs (2, 3) pour que des faisceaux de travail (5, 6) se chevauchent dans un espace d'objet (4) afin de former un motif d'interférence et pour observer l'espace d'objet (4), des faisceaux auxiliaires (17, 18; 72, 73) distincts des faisceaux de travail (5, 6) sont dirigés dans les objectifs (2, 3) et les faisceaux auxiliaires (17, 18; 72, 73) ressortant des objectifs (2, 3) du côté d'injection desdits faisceaux auxiliaires (17, 18; 72, 73) se chevauchent pour former un motif d'interférence.
Également publié en tant que
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