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Paramétrages

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1. WO2005008263 - DISPOSITIF DE PRODUCTION DE MOTIFS ET DISPOSITIF DE TEST

Numéro de publication WO/2005/008263
Date de publication 27.01.2005
N° de la demande internationale PCT/JP2004/009665
Date du dépôt international 07.07.2004
CIB
G01R 31/3185 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
317Tests de circuits numériques
3181Tests fonctionnels
3185Reconfiguration pour les essais, p.ex. LSSD, découpage
CPC
G01R 31/318547
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3181Functional testing
3185Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
318533using scanning techniques, e.g. LSSD, Boundary Scan, JTAG
318544Scanning methods, algorithms and patterns
318547Data generators or compressors
Déposants
  • 株式会社アドバンテスト ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 〒1790071 東京都練馬区旭町1丁目32番1号 Tokyo 1-32-1, Asahi-cho Nerima-ku, Tokyo 1790071, JP (AllExceptUS)
  • 中山 浩康 NAKAYAMA, Hiroyasu [JP/JP]; JP (UsOnly)
Inventeurs
  • 中山 浩康 NAKAYAMA, Hiroyasu; JP
Mandataires
  • 龍華 明裕 RYUKA, Akihiro; 〒1600022 東京都新宿区新宿1丁目24番12号 東信ビル6階 Tokyo 6F, Toshin Building 24-12, Shinjuku 1-chome Shinjuku-ku, Tokyo 1600022, JP
Données relatives à la priorité
2003-27727822.07.2003JP
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) PATTERN GENERATION DEVICE AND TEST DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE PRODUCTION DE MOTIFS ET DISPOSITIF DE TEST
(JA) パターン発生器、及び試験装置
Abrégé
(EN)
There is provided a pattern generation device for generating a test pattern for performing a scan test of an electronic device. The pattern generation device includes: a main memory for correlating a scan pattern data block containing pattern data for performing a scan test to a scan sequence data block containing an instruction indicating the sequence for supplying data of the scan pattern data block to the electronic device and storing them; and a data spreading section for executing the instruction in the scan sequence data block so as to spread pattern data in the corresponding scan pattern data block, thereby generating a test pattern.
(FR)
L'invention concerne un dispositif de production de motifs servant à produire un motif de test pour mettre en oeuvre un test série sur un dispositif électronique. Le dispositif de production de motifs comprend : une mémoire principale pour établir des corrélations entre un bloc de données de motif de balayage qui contient des données de motif permettant de mettre en oeuvre un test série, et un bloc de données de séquence de balayage qui contient une instruction indiquant la séquence permettant de transmettre les données du bloc de données de motif de balayage au dispositif électronique et de stocker celles-ci ; et une partie répartition de données pour exécuter l'instruction du bloc de données de séquence de balayage de manière à répartir les données de motif dans le bloc de données de motif de balayage correspondant, afin de produire un motif de test.
(JA)
電子デバイスのスキャン試験を行うための試験パターンを生成するパターン発生器であって、スキャン試験を行うためのパターンデータを含むスキャンパターンデータブロックと、スキャンパターンデータブロックのデータを電子デバイスに供給するべき順序を示す命令を含むスキャンシーケンスデータブロックとを対応付けて格納するメインメモリと、スキャンシーケンスデータブロックにおける命令を実行することにより、対応するスキャンパターンデータブロックにおけるパターンデータを展開し、試験パターンを生成するデータ展開部とを備えるパターン発生器を提供する。
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