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Paramétrages

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1. WO2005008261 - PROCEDE ET APPAREIL POUR DISPOSITIF DE SONDAGE A IMPEDANCE REGULEE HAUTE FREQUENCE AVEC CONTACTS DE TERRE SOUPLES

Numéro de publication WO/2005/008261
Date de publication 27.01.2005
N° de la demande internationale PCT/US2004/020946
Date du dépôt international 29.06.2004
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 12.11.2004
CIB
G01R 1/067 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
1Détails ou dispositions des appareils des types couverts par les groupes G01R5/-G01R13/125
02Éléments structurels généraux
06Conducteurs de mesure; Sondes de mesure
067Sondes de mesure
CPC
G01R 1/06772
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
1Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
02General constructional details
06Measuring leads; Measuring probes
067Measuring probes
06772High frequency probes
Déposants
  • GORE ENTERPRISE HOLDINGS, INC. [US/US]; 551 Paper Mill Road P.O. Box 9206 Newark, DE 19714-9206, US (AllExceptUS)
  • BECKOUS, Frank, R. [US/US]; US (UsOnly)
  • CZIKORA, Paul, A. [US/US]; US (UsOnly)
  • SQUIRES, John, J. [US/US]; US (UsOnly)
Inventeurs
  • BECKOUS, Frank, R.; US
  • CZIKORA, Paul, A.; US
  • SQUIRES, John, J.; US
Mandataires
  • BOLAND, Kevin, J. ; W.L. Gore & Associates, Inc. 551 Paper Mill Road P.O. Box 9206 Newark, DE 19714-9206, US
Données relatives à la priorité
10/618,47511.07.2003US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) METHOD AND APPARATUS FOR A HIGH FREQUENCY, IMPEDANCE CONTROLLED PROBING DEVICE WITH FLEXIBLE GROUND CONTACTS
(FR) PROCEDE ET APPAREIL POUR DISPOSITIF DE SONDAGE A IMPEDANCE REGULEE HAUTE FREQUENCE AVEC CONTACTS DE TERRE SOUPLES
Abrégé
(EN)
A spring loaded, high frequency, controlled impedance, coaxial probe assembly located within an insulated or conductive housing. A high frequency coaxial probe assembly consisting of a central contact which is fixed or axially floating within a controlled impedance connector body or assembly. A flexible, elastically de-formable, fixed or field replaceable and detachable, ground contact, snapped on and retained in place upon the controlled impedance connector body or assembly creating a fixed or axially floating reference plane or dimension from which the head of the probe contact will protude through the controlled impedance connector body. The individual, high frequency, controlled impedance, coaxial probe assemblies are spring loaded to provide continuous axial signal contact, when deployed to a planar device such as a DUT (Device Under Test) board. The flexible, elastically de-formable, fixed or field replaceable and detachable, ground contact(s) provide a resilient and continuous wiping action. This wiping action removes oxides or material from the surface of the conductive elements of the planar device ground plane. This ensures contact with the conductive elements of the ground plane of the planar device, while reducing the inductance, by minimizing the total ground loop length between the outgoing and returning current paths.
(FR)
Cette invention se rapporte à une unité à sonde coaxiale, à impédance régulée, haute fréquence et sollicitée par ressort, qui est disposée à l'intérieur d'un logement isolant ou conducteur. Une telle unité à sonde coaxiale haute fréquence est constituée par un contact central qui est disposé fixe ou axialement flottant à l'intérieur d'un corps ou d'un ensemble connecteur à impédance régulée. Un contact de terre fixe ou amovible et remplaçable sur place, élastiquement déformable et souple, encliqueté et maintenu en place sur le corps ou l'ensemble connecteur à impédance régulée, créée un plan ou une dimension de référence fixe ou axialement flottant, à partir duquel la tête du contact de sonde va s'étendre à travers le corps connecteur à impédance régulée. Ces unités à sonde coaxiale, à impédance régulée haute fréquence individuelles sont sollicitées par ressort, pour former un contact de signal axial continu, lorsqu'elles sont déployées sur un dispositif plan, tel qu'une carte de dispositif à tester (DUT). Le ou les contacts de terre fixes ou amovibles et remplaçables sur place, élastiquement déformables et souples assurent une action de balayage élastique et continue. Cette action de balayage élimine les oxydes ou tout débris de matériau de la surface des éléments conducteurs du plan de terre du dispositif plan. Elle assure le contact avec les éléments conducteurs du plan de terre du dispositif plan, tout en réduisant l'inductance, en minimisant la longueur de boucle de terre totale entre les trajets de courant aller et retour.
Également publié en tant que
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