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Paramétrages

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1. WO2005006005 - CIRCUIT INTEGRE A UNITE DE CARACTERISATION MONTEE SUR LA CARTE A CIRCUIT

Numéro de publication WO/2005/006005
Date de publication 20.01.2005
N° de la demande internationale PCT/IB2004/051089
Date du dépôt international 01.07.2004
CIB
G01R 31/3187 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
317Tests de circuits numériques
3181Tests fonctionnels
3187Tests intégrés
G01R 31/319 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28Test de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
317Tests de circuits numériques
3181Tests fonctionnels
319Matériel de test, c. à d. circuits de traitement de signaux de sortie
CPC
G01R 31/3187
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3181Functional testing
3187Built-in tests
G01R 31/31915
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3181Functional testing
319Tester hardware, i.e. output processing circuit
31903tester configuration
31915In-circuit Testers
Déposants
  • KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. [NL/NL]; Groenewoudseweg 1 NL-5621 BA Eindhoven, NL (AllExceptUS)
  • VAN KAAM, Kees, M., M. [NL/NL]; NL (UsOnly)
Inventeurs
  • VAN KAAM, Kees, M., M.; NL
Mandataires
  • ELEVELD, Koop, J.; Prof. Holstlaan 6 NL-5656 AA Eindhoven, NL
Données relatives à la priorité
03102062.109.07.2003EP
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) IC WITH ON-BOARD CHARACTERIZATION UNIT
(FR) CIRCUIT INTEGRE A UNITE DE CARACTERISATION MONTEE SUR LA CARTE A CIRCUIT
Abrégé
(EN)
A system and method for providing a built-in characterization of a semiconductor device (201). The device is provided with a built-in, integral, characterization unit (203) which allows characterization of the device without the need for external test equipment.
(FR)
Système et procédé permettant d'assurer la caractérisation intégrée d'un dispositif à semi-conducteurs (201). Le dispositif est équipé d'une unité de caractérisation intégrée et solidaire (203) permettant la caractérisation du dispositif sans qu'il ne soit nécessaire de faire usage de matériel de contrôle externe.
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