Traitement en cours

Veuillez attendre...

Paramétrages

Paramétrages

1. WO2005001403 - PROCEDE DE MESURE DE TEMPERATURE FAISANT APPEL A UN ELEMENT DE DETECTION DE TEMPERATURE A L'ECHELLE DU MICROMETRE

Numéro de publication WO/2005/001403
Date de publication 06.01.2005
N° de la demande internationale PCT/JP2004/009615
Date du dépôt international 30.06.2004
CIB
G01K 5/02 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
KMESURE DES TEMPÉRATURES; MESURE DES QUANTITÉS DE CHALEUR; ÉLÉMENTS THERMOSENSIBLES NON PRÉVUS AILLEURS
5Mesure de la température basée sur la dilatation ou la contraction d'un matériau
02le matériau étant un liquide 
G01K 5/10 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
KMESURE DES TEMPÉRATURES; MESURE DES QUANTITÉS DE CHALEUR; ÉLÉMENTS THERMOSENSIBLES NON PRÉVUS AILLEURS
5Mesure de la température basée sur la dilatation ou la contraction d'un matériau
02le matériau étant un liquide 
04Détails
10Réservoirs pour le liquide
CPC
B82Y 30/00
BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
82NANOTECHNOLOGY
YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
30Nanotechnology for materials or surface science, e.g. nanocomposites
G01K 2211/00
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
2211Thermometers based on nanotechnology
G01K 5/02
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
5Measuring temperature based on the expansion or contraction of a material
02the material being a liquid
G01K 5/10
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
5Measuring temperature based on the expansion or contraction of a material
02the material being a liquid
04Details
10Containers for the liquid
Y10S 977/744
YSECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
977Nanotechnology
70Nanostructure
734Fullerenes, i.e. graphene-based structures, such as nanohorns, nanococoons, nanoscrolls or fullerene-like structures, e.g. WS2 or MoS2 chalcogenide nanotubes, planar C3N4, etc.
742Carbon nanotubes, CNTs
744having atoms interior to the carbon cage
Y10S 977/955
YSECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
977Nanotechnology
902Specified use of nanostructure
932for electronic or optoelectronic application
953Detector using nanostructure
955Of thermal property
Déposants
  • 独立行政法人物質・材料研究機構 NATIONAL INSTITUTE FOR MATERIALS SCIENCE [JP/JP]; 〒305-0047 茨城県 つくば市 千現1丁目2番1号 Ibaraki 2-1, Sengen 1-chome Tsukuba-shi, Ibaraki 305-0047, JP (AllExceptUS)
  • 板東 義雄 BANDO, Yoshio [JP/JP]; JP (UsOnly)
  • ガオ イオハ GAO, Yihua [CN/JP]; JP (UsOnly)
  • リュウ ゾングウェン LIU, Zongwen [AU/JP]; JP (UsOnly)
  • ゴルバーグ デミトリー GOLBERG, Dmitri [RU/JP]; JP (UsOnly)
Inventeurs
  • 板東 義雄 BANDO, Yoshio; JP
  • ガオ イオハ GAO, Yihua; JP
  • リュウ ゾングウェン LIU, Zongwen; JP
  • ゴルバーグ デミトリー GOLBERG, Dmitri; JP
Mandataires
  • 西澤 利夫 NISHIZAWA, Toshio; 〒107-0062 東京都 港区 南青山6丁目11番1号 スリーエフ南青山ビルディング7F Tokyo Three F Minami Aoyama Bldg. 7F 11-1, Minami-Aoyama 6-chome Minato-ku, Tokyo 107-0062, JP
Données relatives à la priorité
2003-18660730.06.2003JP
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) TEMPERATURE MEASURING METHOD USING MICRO TEMPERATURE SENSING ELEMENT
(FR) PROCEDE DE MESURE DE TEMPERATURE FAISANT APPEL A UN ELEMENT DE DETECTION DE TEMPERATURE A L'ECHELLE DU MICROMETRE
(JA) 微小サイズの温度感知素子を用いる温度計測方法
Abrégé
(EN)
A temperature measuring method using a micro temperature sensing element, wherein a variation in the temperature and length of the continuous columnar gallium of the temperature sensing element formed of a carbon nano tube containing the gallium is preliminarily measured, the temperature sensing element is fitted to an article to be temperature-measured and the article is heated in the air, the temperature sensing element is removed and the length of the gallium is measured, and the measured length of the gallium is finally given by an expression. Thus, temperatures in a wide temperature range can be accurately measured in the environment of micro meter size or below.
(FR)
L'invention concerne un procédé de mesure de température faisant appel à un élément de détection de température à l'échelle du micromètre. Le procédé consiste : à mesurer préalablement une variation de température et de longueur de la colonne continue de gallium que comporte l'élément de détection de température, ce dernier étant constitué d'un nanotube de carbone contenant ladite colonne continue de gallium ; à fixer l'élément de détection de température sur un article dont la température doit être mesurée ; à chauffer cet article dans l'air ; à retirer l'élément de détection de température et à mesurer la longueur de la colonne de gallium, et ; à fournir la longueur mesurée de la colonne de gallium à l'aide d'une expression. Ainsi, il est possible de mesurer précisément des températures dans une plage de températures étendue, à l'échelle du micromètre voire à une échelle inférieure.
(JA)
連続した柱状のガリウムが内含されたカーボンナノチューブからなる温度感知素子のガリウムの温度と長さの変化を、あらかじめ測定し、次に温度感知素子を被温度測定物に設置して空気中で加熱した後、取り出してガリウムの長さを測定し、測定したガリウムの長さを式に入れて計測するマイクロメートルサイズ以下の環境において、広い温度範囲の温度を正確に測定するものとする。
Également publié en tant que
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international